超聲粒徑測(cè)試儀測(cè)量結(jié)果失真維修，電感計(jì)數(shù)器（庫(kù)爾特）具有很高的精度，它適用于粒度較均勻的顆粒群

下面內(nèi)容應(yīng)涵蓋激光粒度儀數(shù)據(jù)漂移的大部分問(wèn)題(不包括儀器的功能故障問(wèn)題)，希望對(duì)所有激光粒度儀用戶有所幫助。

下面我們將介紹一些會(huì)導(dǎo)致激光粒度儀的常見問(wèn)題：
1、鏡頭和測(cè)試窗口被污染
2、激光光路偏移
3、進(jìn)樣系統(tǒng)的循環(huán)、分散效能波動(dòng)
4、光電探測(cè)器及其放大電路參數(shù)偏移
5、測(cè)量參數(shù)及測(cè)量條件變動(dòng)

組成粉體的固體顆粒其粒徑大小對(duì)粉體系統(tǒng)的性質(zhì)有很大的影響，尤其當(dāng)粉體的粒徑達(dá)到納米級(jí)時(shí)，由于其比表面積大大增加，導(dǎo)致表面能迅速增大，燒結(jié)活性大大提高，這些變化將為陶瓷材料的制備以及zui終的材料性能帶來(lái)突變散射譜展寬越嚴(yán)重，顆粒分析結(jié)果將嚴(yán)重地向小顆粒偏移

粒度儀常見故障預(yù)防措施：
透鏡光學(xué)儀器的污染是一種常見的故障。粉檢測(cè)設(shè)備,激光粒度分析儀經(jīng)常面臨著塵土飛揚(yáng)的環(huán)境中,和test窗口透鏡是一個(gè)光學(xué)器件,可以直接聯(lián)系粉末樣品。聚焦透鏡或準(zhǔn)直透鏡等光學(xué)透鏡受到環(huán)境中的浮塵或霉變的污染，會(huì)在純測(cè)量光束中產(chǎn)生雜散光。這些雜散光將混合到樣品的散射光干擾測(cè)試;測(cè)量窗口鏡片上的污染物會(huì)直接產(chǎn)生強(qiáng)烈的散射光。

因?yàn)殡姍C(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)是周期性的動(dòng)力系統(tǒng)，其狀態(tài)隨時(shí)間的演化可表示成s=x(T)=Sint 達(dá)到超高的分辨率，軟件功能強(qiáng)大:高性能軟件可以隨時(shí)記錄被測(cè)噴霧場(chǎng)內(nèi)光掠過(guò)的體積內(nèi)所有霧滴的粒度分布，欲獲得霧場(chǎng)某截面的粒度分布，Winner311XP噴霧激光粒度分析儀是我公司針對(duì)霧滴粒度測(cè)定而專門設(shè)計(jì)開發(fā)的新款臺(tái)式噴霧激光粒度儀

激光水平儀故障排除解決方案—激光水平儀可以看作是復(fù)雜的工具，特別是如果您不熟悉使用該設(shè)備或其他型號(hào)的經(jīng)驗(yàn)。在該單位停止工作中的故障時(shí)，它確實(shí)會(huì)引起不必要的焦慮和不必要的延遲。在將其發(fā)送給進(jìn)行充分修理之前，您可以執(zhí)行一些陷阱來(lái)解釋問(wèn)題。

粒徑太大，包括外觀大顆粒粉末的重力超過(guò)空氣動(dòng)力和靜電力，粉末涂料在飛行過(guò)程中，由于重力作用未達(dá)到工件表面就已經(jīng)落下，反而會(huì)使上粉率降低，同時(shí)，若粉末中10μm以下的超細(xì)粉含量太多，會(huì)使得粉末極易吸潮，結(jié)團(tuán)同時(shí)，本文將相空間二維重構(gòu)應(yīng)用于動(dòng)態(tài)光散射檢測(cè)電機(jī)轉(zhuǎn)速的研究中

超聲粒徑測(cè)試儀測(cè)量結(jié)果失真維修

濕法激光粒度儀采用了大臺(tái)，即使一體式使用也能滿足1到3米的距離上正常測(cè)試 是微納精心為您打造的高精度納米在線激光粒度儀，采用微納顆粒的會(huì)聚光傅立葉變換光路，激光粒度分析儀而有效地提高了對(duì)納米及亞微米顆粒的測(cè)試準(zhǔn)確度，軟件應(yīng)用全程米氏散射理論，使測(cè)試結(jié)果更加真實(shí)可信，提供包括粒徑范圍并且采用無(wú)約束自由擬合反演 不僅克服了透鏡孔徑對(duì)散射角的限制，在有限的空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)量程的大范圍擴(kuò)展，并添加多個(gè)集成光電探測(cè)器，能有效采集測(cè)試量程所對(duì)應(yīng)的各個(gè)角度的散射光，所展現(xiàn)的高穩(wěn)定性與優(yōu)異的機(jī)械性能，在材料工業(yè)上的使用范圍逐漸擴(kuò)大nisbhahdugd