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[供應]A型-靈敏度試片

更新時間:2025-04-21 09:10:42

有效期:2025年4月21日 -- 2025年10月20日

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A型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復雜,不同材質(zhì)的工件,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量。A型靈敏試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具。


磁粉探傷靈敏度試片A1、C型、D型、M1型試片主要用于檢驗磁粉檢測設(shè)備、磁粉和磁懸液的綜合性能,顯示被檢 工件表面具有足夠的有效磁場強度和方向、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確。

A靈敏度試片

產(chǎn)品詳情

A靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復雜,不同材質(zhì)的工件,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量。A型靈敏試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具。

特點如下:

試片用于磁粉顯示,圖像直觀,使用簡便,對各類零件所有方向的磁場,尤其檢查形狀復雜的零件時,表現(xiàn)其*的優(yōu)點。

性能規(guī)格:

A靈敏度試片

試片=1um)適用于高靈敏度探傷,規(guī)格為(11-12D;=2um)適用于中靈敏度探傷,為(8-9D=3um)適用于低靈敏度探傷,規(guī)格為(5-6D。括號中分子為槽深,分母為試片厚度,單位為um(微米),D為工件直徑。

使用方法:

選適當靈敏度的試片,將刻有槽的一面用膠帶紙緊密地貼在工件上(膠帶紙貼于試片兩邊緣,不要影響試片背面的刻槽部位)。

進行外加懸場法,對工件進行磁化,并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規(guī)范由低檔逐提高,以顯示磁痕為界,既是磁化電流)。

上述步驟完畢后,貼在工件表面上的試片,即可清楚顯示磁痕。

注意事項:

1. 試片使用前,用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,在用膠帶紙緊密地貼在工件上。

2. 試片用后請涂防銹油。

3. 試片有褶皺不平或破裂,會影響探傷靈敏度,不宜繼續(xù)使用。



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