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當(dāng)前位置：儀思奇（上海）儀器有限公司>>法國公司Cordouan>>原位時(shí)間分辨納米粒度儀>> Vasco Kin原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)Vasco Kin
品 牌Cordouan/法國
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地上海市
更新時(shí)間：2022-10-19 13:52:05瀏覽次數(shù)：3531次
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| 測(cè)量范圍 | 0.5nm 到 10μm微米 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 分散方式 | 濕法分散 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
| 儀器種類 | 動(dòng)態(tài)光散射 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè) |
l 粒度測(cè)量范圍 : 0.5nm 到 10µm
l 背向動(dòng)態(tài)光散射原理，實(shí)時(shí)遠(yuǎn)程非接觸測(cè)量
l 監(jiān)測(cè)納米顆粒合成過程；監(jiān)測(cè)整個(gè)過程的粒度變化情況，有助于穩(wěn)定性研究
l 全自動(dòng)非接觸測(cè)量：能穿透玻璃和塑料針管，測(cè)定包裝物及反應(yīng)釜中的粒度分布和隨時(shí)間的變化
l 適用樣品濃度：0.1ppm-40%（w/v）
l 時(shí)間分辨: DLS的分辨率為0.2s，用于動(dòng)力學(xué)監(jiān)測(cè)
l 隨時(shí)間變化的粒度分布彩色地形圖
l “時(shí)間切片”功能：用戶對(duì)測(cè)試后數(shù)據(jù)可進(jìn)行任意時(shí)間段內(nèi)的粒度分析
l 樣品前處理：無需樣品前處理，直接測(cè)試
原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀
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