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潤(rùn)濕比表面分析儀

Xigo Area是基于NMR弛豫時(shí)間專li技術(shù)（美國(guó)專li7,417,426,  2008）的潤(rùn)濕顆粒比表面的分析儀器，它所采用的原理是基于這樣一種現(xiàn)象：即與顆粒表面結(jié)合的液體比自由或散裝液體的弛豫時(shí)間要短得多。

l 基于核磁共振（NMR）原理，對(duì)懸浮液狀態(tài)下納米和微米顆粒進(jìn)行比表面分析

l 測(cè)量弛豫時(shí)間T2和T1，整個(gè)過(guò)程從開始到結(jié)束只需5分鐘。

l 儀器功能：潤(rùn)濕比表面積；弛豫時(shí)間T1/T2；T2時(shí)間掃描

l 可直接對(duì)中間體或配方原濃懸浮液樣品進(jìn)行直接地測(cè)量，對(duì)樣品的分散性、浸潤(rùn)性或納米顆粒的表面修飾，都是一種理想的表征手段。

l 應(yīng)用領(lǐng)域：陶瓷漿料、電子漿料、導(dǎo)電油墨、碳基油墨、銅-鉑鹵菁、銀漿、燃料電池、催化劑、炭黑、碳納米管、納米石墨、石墨烯等材料及制藥領(lǐng)域

l 可進(jìn)行連續(xù)流動(dòng)測(cè)定或在線測(cè)定