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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> Vasco Kin-原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀
l 粒度測(cè)量范圍 : 0.5nm 到 10µm
l 背向動(dòng)態(tài)光散射原理,實(shí)時(shí)遠(yuǎn)程非接觸測(cè)量
l 監(jiān)測(cè)納米顆粒合成過(guò)程;監(jiān)測(cè)整個(gè)過(guò)程的粒度變化情況,有助于穩(wěn)定性研究
l 全自動(dòng)非接觸測(cè)量:能穿透玻璃和塑料針管,測(cè)定包裝物及反應(yīng)釜中的粒度分布和隨時(shí)間的變化
l 適用樣品濃度:0.1ppm-40%(w/v)
l 時(shí)間分辨: DLS的分辨率為0.2s,用于動(dòng)力學(xué)監(jiān)測(cè)
l 隨時(shí)間變化的粒度分布彩色地形圖
l “時(shí)間切片"功能:用戶對(duì)測(cè)試后數(shù)據(jù)可進(jìn)行任意時(shí)間段內(nèi)的粒度分析
l 樣品前處理:無(wú)需樣品前處理,直接測(cè)試
原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀
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