GGB探針ST 系列硬針是 0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質針桿經(jīng)過精密電化學加工成為不同的針尖直徑，長度為 1.5inch(38.1mm)的探針。這種探針應用與絕大多數(shù)的芯片電極點測和線路點測。ST 系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可以選擇表面鍍鎳，如果選擇 鍍鎳則型號后面增加“NP"。

一般配合探針臺一起使用，用于測試相關半導體行業(yè)樣品的電學測試。比如IV/CV等。

根據(jù)其它使用場景，比如二維材料轉移系統(tǒng)，機械探針臂等都有運用。

詳情可以隨時聯(lián)系我們。

主要參數(shù)：

針桿長度38mm，直徑0.5mm；可測電流范圍1fA~1A。

針對特別薄的樣品，我們常常采用鈹銅材質，相對于鎢，更加柔軟，不容易扎破樣品。但是鈹銅的熔點低，不適合在高溫下使用?？蛻艨梢愿鶕?jù)不同的使用情況，選擇不同的樣品，我們也會根據(jù)客戶的實際情況給出合理化的建議。

我司常年備有大量庫存，有現(xiàn)貨，可以滿足客戶一般的測試需求。

GGB探針型號規(guī)格：

優(yōu)測國芯電子科技（深圳）有限公司是一家致力于提供半導體和自動化設備綜合解決方案的自主創(chuàng)新型技術企業(yè)。我們集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務于一體，不僅擁有*的生產(chǎn)設備、*的加工工藝及品質檢測體系，也擁有涉及材料、物理、化學、微電子、機械等專業(yè)的技術團隊。現(xiàn)在主營的產(chǎn)品有：4寸、6寸、8寸、12寸手動探針臺、高壓大功率探針臺、真空高低溫探針臺，半自動探針臺，全自動探針臺等，可以完成I-V/C-V測試，脈沖I-V測試，RF/mmW測試，高壓、大電流測試，MEMS、光電器件等測試。專業(yè)的設計人員也可以按客戶的要求量身定制，如搭配光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)、太陽能發(fā)生器、多普勒測試儀、積分球等，在常規(guī)探針臺功能上進行延伸拓展來滿足不同客戶的測試需求。