產(chǎn)地類(lèi)別 |
國(guó)產(chǎn) |
價(jià)格區(qū)間 |
面議 |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
化工,電子,制藥 |
芯片測(cè)試高低溫一體機(jī),冷熱裝置廠家的典型應(yīng)用:
適用于電子元器件的溫度控制需求。 在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測(cè)試階段包括在溫度(-45℃至+ 250℃)下的電子冷熱測(cè)試和其他環(huán)境測(cè)試模擬。
芯片測(cè)試高低溫一體機(jī),冷熱裝置廠家
主要用于半導(dǎo)體測(cè)試中的溫度測(cè)試模擬,具有寬溫度定向和高溫升降,溫度范圍-92℃~250℃,適合各種測(cè)試要求.LNEYA致力于解決了電子元器件中溫度控制滯后的問(wèn)題,超高溫冷卻技術(shù)可以直接從300℃冷卻。

芯片測(cè)試高低溫一體機(jī),冷熱裝置廠家
元器件高低溫測(cè)試機(jī)提醒,在電子元器件的研制階段。失效分折可糾正設(shè)計(jì)和研制中的錯(cuò)誤,縮短研制周期;在電子器件的生產(chǎn),測(cè)試和試用階段,失效分析可找出電子元器件的失效原因和引起電子元件失效的責(zé)任方。根據(jù)失效分析結(jié)果,元器件生產(chǎn)廠改進(jìn)器件的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝,元器件使用方改進(jìn)電路板設(shè)汁,改進(jìn)元器件和整機(jī)的測(cè)試,試驗(yàn)條件及程序,甚至以此更換不合格的元器件供貨商。因而,失效分析對(duì)加快電子元器件的研制速度,提高器件和整機(jī)的成品率和可靠性有重要意義。

芯片高低溫測(cè)試機(jī)電子元器件測(cè)試系統(tǒng)以其優(yōu)良的軟硬件性能和完善的服務(wù)在航天、航空、電子、郵電、半導(dǎo)體、核工業(yè)、兵器等行業(yè)得到廣泛的應(yīng)用。用戶(hù)單位包括從事整機(jī)研制和生產(chǎn)的研究所和企業(yè),包括從事半導(dǎo)體器件研制和生產(chǎn)的研究所和企業(yè),包括專(zhuān)業(yè)從事電子元器件測(cè)試篩選的測(cè)試中心,也包括一些外資公司和企業(yè)。因而創(chuàng)造了良好的經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益。
目前,無(wú)錫冠亞利用制冷加熱動(dòng)態(tài)控溫系統(tǒng)還在針對(duì)電子元器件行業(yè)的測(cè)試工作不斷開(kāi)發(fā)新的產(chǎn)品,為我國(guó)的電子元器件測(cè)試行業(yè)做出發(fā)展。
