無(wú)錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司的半導(dǎo)體控溫解決方案

主要產(chǎn)品包括半導(dǎo)體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測(cè)試機(jī)和半導(dǎo)體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備，

?泛應(yīng)?于半導(dǎo)體、LED、LCD、太陽(yáng)能光伏等領(lǐng)域。

【 冠亞制冷 】半導(dǎo)體行業(yè)主營(yíng)控溫產(chǎn)品：

半導(dǎo)體專溫控設(shè)備

射流式?低溫沖擊測(cè)試機(jī)

半導(dǎo)體專用溫控設(shè)備chiller

Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)

Chiller直冷型

循環(huán)風(fēng)控溫裝置

半導(dǎo)體?低溫測(cè)試設(shè)備

電?設(shè)備?溫低溫恒溫測(cè)試?yán)錈嵩?/span>

射流式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)

快速溫變控溫卡盤(pán)

數(shù)據(jù)中心液冷解決方案

循環(huán)風(fēng)控溫裝置AI-6535 半導(dǎo)體?溫控設(shè)備

循環(huán)風(fēng)控溫裝置AI-6535 半導(dǎo)體?溫控設(shè)備

射流式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。

是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試、失效分析、可靠性評(píng)估的儀器設(shè)備。

溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃，升降溫速率?常快速，150℃?-55℃＜10秒，zui??流量：30m3/h；

實(shí)時(shí)監(jiān)控被測(cè)IC真實(shí)溫度,實(shí)現(xiàn)閉環(huán)反饋，實(shí)時(shí)調(diào)整?體溫度升降溫時(shí)間可控，程序化操作、?動(dòng)操作、遠(yuǎn)程控制

　　集成電路高低溫測(cè)試系統(tǒng)是用于在各種溫度條件下測(cè)試集成電路的性能和可靠性，這種測(cè)試系統(tǒng)可以在高溫和低溫環(huán)境下模擬和測(cè)試集成電路的工作狀態(tài)，以確保它們能夠在各種溫度條件下正常工作。

　　一、集成電路高低溫測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)

　　1、高精度測(cè)試：該系統(tǒng)采用制冷加熱測(cè)試技術(shù)，可以在各種溫度條件下進(jìn)行高精度的測(cè)試，包括電壓、電流、頻率等參數(shù)的測(cè)量。

　　2、多功能測(cè)試：該系統(tǒng)可以進(jìn)行各種類型的集成電路測(cè)試，包括邏輯電路、模擬電路、數(shù)字電路等，滿足不同類型集成電路的測(cè)試需求。

　　3、可靠性測(cè)試：該系統(tǒng)可以在各種溫度條件下模擬和測(cè)試集成電路的可靠性，預(yù)測(cè)集成電路在不同溫度條件下的工作性能和壽命。

　　三、集成電路高低溫測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用

　　1、電子設(shè)備制造：在電子設(shè)備制造過(guò)程中，需要進(jìn)行高低溫測(cè)試以確保電子設(shè)備能夠在不同溫度條件下正常工作。

　　2、航空航天領(lǐng)域：航空航天領(lǐng)域中的設(shè)備需要在各種溫度條件下工作，因此需要進(jìn)行高低溫測(cè)試以確保設(shè)備的可靠性和性能。

　　3、汽車工業(yè)：汽車工業(yè)中的電子控制系統(tǒng)需要在不同溫度條件下工作，因此需要進(jìn)行高低溫測(cè)試以確保其正常工作。