TESCAN CLARA SEM掃描電子顯微鏡是一款應(yīng)用廣泛的多功能掃 描電子顯微鏡，是基于成功的S8000基礎(chǔ)上進(jìn)一步 研發(fā)的，其設(shè)計更能滿足材料科學(xué)的需求，適用于 對各種不同類型材料的分析和表征。

TESCAN CLARA SEM掃描電子顯微鏡是真正靈活的分析平臺，能 得到具有好襯度的優(yōu)質(zhì)圖像。無論樣品是否導(dǎo) 電、有無磁性、是有機(jī)還是無機(jī)材料， CLARA均可提供理想的圖像，這得益于具有電子 信號過濾功能的良好探測系統(tǒng)和可變真空環(huán)境的系 統(tǒng)設(shè)計。

BrightBeam™SEM 鏡筒

最新的BrightBeam™ SEM鏡筒，實(shí)現(xiàn)了無磁 場高分辨成像，適用于磁性樣品分析。新型鏡筒中 的電子光路設(shè)計增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率，特 別適合分析電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品。

多探測器成像分析

CLARA配置最新的多種探測器，可 選擇不同角度和能量收集信息，體現(xiàn)更多種類的 信息，同時能夠獲得更好的表面靈敏度和對比度。

SE 分辨率：0.9 nm@15kV

•  1.2 nm @ 1 kV

•  配置靜電■電磁復(fù)合物鏡，物鏡無磁場外泄， 可實(shí)現(xiàn)磁性樣品超高分辨成像和分析 新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù)，保證復(fù) 雜樣品的低電壓高分辨觀測

•  配置4個新一代探測器，可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀 測，樣品信息采集更加全面

•  超過20個擴(kuò)展接口，可配置多種分析附件， 并實(shí)現(xiàn)Raman 一體化集成

1、硅基底上的鍍金顆粒。

2、陶瓷斷裂表面，2 keV成像。

3、在Cyr。條件下觀察到的真菌弛子。

4、用TESCANCL探測器獲得的石英晶體的CL圖像。