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能量色散X熒光光譜儀XRF-T6是根據(jù)環(huán)保法規(guī)和標(biāo)準(zhǔn)要求 ，專門針對RoHS\\鹵素、 EN71-3、CA65等環(huán)保指令設(shè)計的一款快速分析設(shè)備。采用最新的Sma...

便攜式金相顯微鏡又名現(xiàn)場金相顯微鏡。由于其進(jìn)行檢測時不會破壞工件，能保證工件的完整性，從而廣泛適用于航空、機(jī)械、車輛、、冶金、軋輥、鍋爐及壓力容器的制造及檢驗，...

OptimScan 5M固定式藍(lán)光三維掃描儀是工業(yè)級三維掃描儀，采用500萬像素進(jìn)口工業(yè)相機(jī)，掃描精度高達(dá)0.005 mm；配合*的藍(lán)光光柵掃描技術(shù)，抗干擾性強(qiáng)...

OptimScan 5M Plus固定式藍(lán)光三維掃描儀采用窄帶藍(lán)光光源，高分辨率工業(yè)鏡頭確保了精細(xì)的掃描效果，以及光順的數(shù)據(jù)質(zhì)量。設(shè)備提供三組高分辨率工業(yè)鏡頭，...

OptimScan 9M固定式藍(lán)光三維掃描儀搭載890萬像素相機(jī)，可獲取物體表面高精細(xì)度特征。設(shè)備采用窄帶藍(lán)光光源，抗干擾性強(qiáng)。模塊化鏡頭設(shè)置，可以實現(xiàn)不同測量...

FreeScan Trak Pro2跟蹤式激光三維掃描儀系統(tǒng)延續(xù)了FreeScan Trak Pro高精度目重復(fù)性精度穩(wěn)定、無需貼點(diǎn)等優(yōu)勢，并在掃描效率上進(jìn)行了...

FreeScan UE Pro多功能激光手持三維掃描儀保持FreeScan UE高精度、穩(wěn)定的重復(fù)精度以及輕量化設(shè)計的同時，提升精細(xì)掃描以及大型工件掃描全局精度...

FreeScan Trio三目激光手持三維掃描儀是先臨三維自主研發(fā)的又一款跨時代創(chuàng)新產(chǎn)品，是先臨天遠(yuǎn)FreeScan系列的旗艦機(jī)型FreeScan Trio采用...

FreeScan Combo計量級雙光源手持三維掃描儀，擁有兩種光源、配備四種模式:藍(lán)色激光(高速/精細(xì)/深孔掃描模式);VCSEL不可見光(無光掃描模式);小...

Hexagon GLOBAL PLUS系列三坐標(biāo)測量儀基于?？怂箍翟谛袠I(yè)內(nèi)豐富的經(jīng)驗和創(chuàng)新型*技術(shù)為基礎(chǔ)集成開發(fā)的。通過整合?？怂箍档淖钚聝?yōu)勢，集成一系列創(chuàng)新型...

蔡司CONTURA系列三坐標(biāo)測量儀來自蔡司的靈活、可靠和優(yōu)秀的測量平臺。新一代測量機(jī)精度更高，可兼容多種光學(xué)式探頭，從而實現(xiàn)更廣的測量范圍。

三豐CRYSTA-Apex V系列三坐標(biāo)測量儀是追求高精度、高速度、多樣性的新一代CNC三坐標(biāo)測量機(jī)，為實現(xiàn)利用IoT深度生產(chǎn)管理和品質(zhì)管理信息的智能工廠提供強(qiáng)...

三豐Daisy系列三坐標(biāo)測量儀是愛德華測量設(shè)備股份有限公司最新一代三坐標(biāo)測量機(jī)，采用有限元分析方法設(shè)計的精密斜梁，設(shè)計上采用剛性好、質(zhì)量輕的全封閉框架移動橋式結(jié)...

SF3D系列三維表面輪廓具有圖像快速處理、分析和測量功能，可提供高襯度、高分辨率、大景深、無失真的二維和三維圖像?？蓪崿F(xiàn)多角度觀測，用于材料外輪廓、紋理、表面圖...

SF3D系列 超景深三維顯微鏡具有圖像快速處理、分析和測量功能，可提供高襯度、高分辨率、大景深、無失真的二維和三維圖像?？蓪崿F(xiàn)多角度觀測，用于材料外輪廓、紋理、...

SF3D系列 3D形貌顯微鏡具有圖像快速處理、分析和測量功能，可提供高襯度、高分辨率、大景深、無失真的二維和三維圖像?？蓪崿F(xiàn)多角度觀測，用于材料外輪廓、紋理、表...

SF3D系列 3D顯微鏡具有圖像快速處理、分析和測量功能，可提供高襯度、高分辨率、大景深、無失真的二維和三維圖像。可實現(xiàn)多角度觀測，用于材料外輪廓、紋理、表面圖...

EDS7700 X熒光光譜儀原理由高能X射線激發(fā)原子電子層，使得原子核外電子發(fā)生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測系統(tǒng)測量這...

EDS5800T X熒光光譜分析儀原理由高能X射線激發(fā)原子電子層，使得原子核外電子發(fā)生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測系統(tǒng)...

EDS5800CX熒光光譜分析儀原理由高能X射線激發(fā)原子電子層，使得原子核外電子發(fā)生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測系統(tǒng)測...