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二維平移光譜響應(yīng)度測(cè)試探針臺(tái) 參考價(jià):5000
二維平移光譜響應(yīng)度測(cè)試探針臺(tái)是一款專用于半導(dǎo)體材料光電測(cè)試的系統(tǒng)。其功能全面,提供多種重要參數(shù)測(cè)試。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描,光電流掃描以及光響應(yīng)速率測(cè)試。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)