目錄:賽默飛電子顯微鏡>>透射電子顯微鏡（TEM）>> 300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2025-03-21 09:48:48瀏覽次數(shù)：1155評(píng)價(jià)
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 熱場(chǎng)發(fā)射 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
為了讓科學(xué)家們更好地了解復(fù)雜樣品并開發(fā)新材料，他們需要具有相應(yīng)構(gòu)造與功能的設(shè)備——不但能夠分辨空間、時(shí)間和頻率，而且可靠精確。
賽默飛世爾科技推出了Thermo Scientific Spectra 300 (S)TEM，這是一種適用于所有材料科學(xué)應(yīng)用的最高分辨率像差校正掃描透射電子顯微鏡。
所有的Spectra 300 (S)TEM都安裝在新平臺(tái)上，旨在通過被動(dòng)和（可選配）主動(dòng)隔振提供機(jī)械穩(wěn)定性和最高成像質(zhì)量。
該系統(tǒng)安裝在一個(gè)重新設(shè)計(jì)的外殼內(nèi)，內(nèi)置屏幕顯示，便于裝載和取出標(biāo)本。這是電子顯微鏡可以對(duì)無矯正器和單矯正器配置時(shí)的不同高度提供模塊化和可升級(jí)性，從而為不同的房間配置提供最大的靈活性。
圖像矯正器 |
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探針矯正器： |
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未校正 |
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X-FEG/單色器雙校正（探針+圖像矯正器） |
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X-CFEG 雙校正（探針+圖像校正） |
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離子源 |
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