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材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準(zhǔn)確化學(xué)定量的 TEM 顯微鏡

材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM功能：

可搭配眾多高分辨率場(chǎng)發(fā)射槍 (FEG)

選擇高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場(chǎng)發(fā)射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將 (S)/TEM 成像及能量分辨率相結(jié)合。

直觀的軟件

Thermo Scientific Velox 軟件可實(shí)現(xiàn)對(duì)多模式數(shù)據(jù)的快速、輕松的采集和分析。

更短的化學(xué)成分獲得周期

快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級(jí)細(xì)節(jié)，同時(shí)保持高潔凈度。

更多空間

為動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)添加特定用途的原位樣品桿。

高度可重復(fù)的數(shù)據(jù)采集

所有日常 TEM 調(diào)整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點(diǎn)和旋轉(zhuǎn)中心都是自動(dòng)進(jìn)行的，確保您始終從最佳成像條件開始工作。實(shí)驗(yàn)可以能夠再現(xiàn)的方式重復(fù)進(jìn)行，從而使您能夠?qū)Ｗ⒂谘芯慷莾x器操作。

更好的圖像數(shù)據(jù)

高通量 STEM 成像采用同步多信號(hào)檢測(cè)，可為高質(zhì)量圖像提供更高的對(duì)比度。

高質(zhì)量 (S)TEM 圖像和準(zhǔn)確的 EDS

通過(guò)創(chuàng)新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質(zhì)量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中的 EDS 吸收校正功能可實(shí)現(xiàn)極準(zhǔn)確的定量。

提高了生產(chǎn)率

超穩(wěn)定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠(yuǎn)程操作和恒定功率物鏡，可進(jìn)行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環(huán)境的快速輕松切換。