高分辨率微納米工業(yè)CT-射線源0.4µm EasyTom / 產(chǎn)品概述
測試特性:尺寸測量、材料表征、缺陷分析、內(nèi)部結(jié)構(gòu)無損檢測
適用領(lǐng)域:工業(yè)零部件
可以對工件進行高分辨率內(nèi)部可視化和測量分析,可搭載拉伸、壓縮、彎曲和溫度測試的原位裝置,鉛窗口支持設(shè)置和掃描期間直接查看樣品,掃描體積為直徑320mm、高530mm,分辨率高達0.4μm,微米管&納米管的雙射線源結(jié)構(gòu),適合中等尺寸零件。
高分辨率微納米工業(yè)CT-射線源0.4µm EasyTom / 產(chǎn)品特點
實時高分辨率2D數(shù)字射線成像
提供微米或納米版以及組合版
體素分辨率低至350m/體素
檢測體積大(直徑x高度:320mmx420mm)
7可編程自動控制循環(huán)
可進行原位微CT
鋁/鋼結(jié)構(gòu)和X射線聯(lián)鎖裝置,設(shè)計符合X射線規(guī)定
開放式綜合系統(tǒng),具有可編程自動控制循環(huán)
技術(shù)規(guī)格
機械 | 微米 | 納米 |
軸數(shù) | 7 | 7 |
zui大SDD3 | 910 mm | 780 mm |
掃描體積 | ?320×530mm | ?320×300mm |
zui大樣品重量 | 30kg | 20kg |
設(shè)備重量 | 3300kg | 2500kg |
外部尺寸 | 2200×1114×2000mm(W×D×H) | 2200×1114×2000mm(W×D×H) |
平板探測器(選配) | 像素矩陣1920x1536;像素間距127 µm;尺寸25×20 cm 像素矩陣2048x2560;像素間距124 µm;尺寸32×25 cm 像素矩陣3072x3072;像素間距139 µm;尺寸43×43 cm | |
相機探測器(選配 | 像素矩陣4008x2672;像素間距9 µm;尺寸36×24 mm | |
X射線管(選配) | 封閉管:zui大電壓130微米;zui大功率39W;zui大分辨率5µm 封閉管:zui大電壓150微米;zui大功率75W;zui大分辨率5µm 開放管:zui大電壓230微米;zui大功率200W;zui大分辨率2µm/4µm 開放管:zui大電壓300微米;zui大功率200W;zui大分辨率4µm 開放管:zui大電壓160微米;zui大功率16W;zui大分辨率0.4µm |