目錄:蘇州威銳科電子有限公司>>LCR測試儀>>阻抗分析儀>> 1J6505B穩(wěn)科阻抗分析儀
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,航天,汽車,電氣 |
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穩(wěn)科阻抗分析儀WK6500系列成為各種不同類型的工作和應(yīng)用程式的理想選擇。使用者包括被動元件設(shè)計師,電介體、絕緣體的設(shè)計測試人員,及生產(chǎn)線的測試人員。工程師需要在高頻率的狀況下以精度來定義元件的特性,WK6500B系列精密阻抗分析儀成為您準(zhǔn)確易用的理想測試工具。
穩(wěn)科阻抗分析儀WK6500B系列特點:
•簡易的TFT觸屏操作,10分鐘內(nèi)輕易上手
•電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案
•30 msec超高速測試速度
•等效Rdc 可高度四線式測試,量測到0.01mohm
•0.05%基本精度
•可內(nèi)建1Amp 或 2Amp DC Bias,外加達(dá)到40Amp DC Bias
•可將測試波形儲存成CSV格式,放大、縮小及MARKER功能
•20Hz~120MHz,七種機(jī)型,可隨時升級 ,達(dá)升級到120MHz
•直覺的用戶操作介面,USB、LAN、GPIB及HANDLER
•可使用滑鼠及鍵盤操控,也可外接印表機(jī)及使用USB介面儲存資料
•具等效電路模擬功能,內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺
穩(wěn)科授權(quán)代理商:蘇州威銳科電子有限公司
我們的優(yōu)勢:穩(wěn)科、是德、泰克、日置、固緯、艾德克斯、安柏、海思、普源、同惠等
產(chǎn)品優(yōu)勢:
測試參數(shù):
電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 消耗因素(D), 品質(zhì)因素(Q), 阻抗(Z), Y參數(shù)(Y), 相位角(?)
高精度量測:
電容,電感及阻抗基本精度為±0.05%.消耗因素精度為±0.0005及品質(zhì)因素精度為±0.05%.
元件圖形掃描
6500系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率,高精度的量測. 該設(shè)備還是一個包含豐富特性的元件分析儀.
圖形掃描可依據(jù)頻率, 驅(qū)動值及直流偏壓源同時在高清晰,大型彩色顯示幕上顯示任意兩種參數(shù)的圖形.
顯示格式包括 串聯(lián) 或并聯(lián)等同電路和兩極形式.單測某一頻率時可以從圖形掃描轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)電表讀值模式.
可變的輸出和偏壓源
交流輸出可選高達(dá)1伏或20mA,實現(xiàn)在真實操作環(huán)境中來評估元件.可變偏壓直流源可提供達(dá)100mA的電流.
外部控制
在品管或制作檔譜的過程中可通過 GPIB介面來控制儀器和收取讀值.
網(wǎng)端介面也具有同樣的控制儀器和傳輸資料的功能 – 使儀器能適應(yīng)許多不同的測試環(huán)境.
多選擇的介面
VGA介面可連接到PC顯示器或投影機(jī), 這種功能為生產(chǎn)環(huán)境或教學(xué)培訓(xùn)都提供無法衡量的價值. 本機(jī)還可通過外接鍵盤和滑鼠來操控,任何PS2或USB鍵盤和滑鼠都能簡單的接插到系統(tǒng)中, 提供控制和操作儀器的另一種可行方式.
資料儲存和提取
所有的測試結(jié)果及設(shè)制都可以通過網(wǎng)路介面或USB閃盤來儲存.
分類處理介面
Bin Handler 為可選設(shè)制, 通過25相D型接頭提供獨立(24V)和非獨立(5V)的信號.
印表機(jī)輸出
測試結(jié)果可通過幾種不同的途經(jīng)列印出,其中包括直接列印至HP-PCL匹配的圖形印表機(jī), EPSON相匹配的文字印表機(jī)或直接通過儀器的網(wǎng)口經(jīng)局域網(wǎng)列印.
待測元件連接
可通過面板的BNC接頭來實現(xiàn)倆端,三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測試需要.
充電電容保護(hù)
高精密的測試儀器可能在使用過程中被已充電的電容裝置所損壞,造成昂貴的維修及不必要的停產(chǎn). 6500系列有內(nèi)置的保護(hù)來避免這種情況發(fā)生.
WK6500B系列規(guī)格參數(shù):
機(jī)型 | 1J6505B | 1J6510B | 1J6515B | 1J6520B | 1J6530B | 1J6550B | 1J65120B | |
頻率 | 20Hz~5MHz | 20Hz~10MHz | 20Hz~15MHz | 20Hz~20MHz | 20Hz~30MHz | 20Hz~50MHz | 20Hz~120MHz | |
測試參數(shù) | L(電感)、Q(品質(zhì)因素)、D(消耗因素)、C(電容)、Z(阻抗)、X(電抗)、ACR(交流電阻)、θ(相位角)、Y(導(dǎo)納)、G(電導(dǎo))、 B(電納) | |||||||
參數(shù)范圍 | Z, R, X: 0.01m > 2GΩ | |||||||
G, Y, B: 0.01mS ~ >2kS | ||||||||
L: 0.1nH ~ > 2kH | ||||||||
C: 1Ff ~ >1F | ||||||||
D: 0.00001 ~ >1000; Q: 0.00001 ~ >1000 | ||||||||
θ: -180o~+180o | ||||||||
電平 | 10mV~1Vrms; 200μA~20mA | |||||||
輸出阻抗 | 50Ω | |||||||
直流疊加 | 內(nèi)置:0~100mV/0 ~ +40V; -40V ~ +40V(選配) | |||||||
外加:0 ~ +40A(選配) | ||||||||
測試模式 | 電表模式(測試值顯示)/ 分析模式(掃描曲線) | |||||||
諧振頻率測試 | ||||||||
測試值 / 偏差值 | ||||||||
測試值下載 / CSV格式 | ||||||||
等效電路分析測試(選配)WK65120B為標(biāo)配 | ||||||||
絕緣材料介電常數(shù)測試和磁性材料磁導(dǎo)率測試 | ||||||||
分類挑選(選配) / 多步驟測試(選配) / 震蕩器 / 壓電組件測試(選配) | ||||||||
通信接口 | GPIB, LAN, Handler / PASS, FAIL(選配) | |||||||
內(nèi)存 | 20組 | |||||||
溫濕度 | 溫度0℃~40℃(操作),-20℃~60℃(儲存),濕度>80% | |||||||
輸入電壓 | 使用電源90~264Vac(可自動切換),頻率47~63Hz | |||||||
標(biāo)準(zhǔn)配件 | 操作手冊,電源線,1J1011測試夾具或1J1012測試夾具,U盤 | |||||||
選配 | /M Multi Measurement Mode(多步測量模式) | /B2 Binning Opto-Coupled(光藕分選) | ||||||
/L Data Logger Mode(數(shù)據(jù)記錄模式) | /D1 0 ~+40Vdc bias(內(nèi)置) | |||||||
/E Equivalent Circuit Analysis(等效電路分析) | /D2 -40V ~+40Vdc bias(內(nèi)置) | |||||||
/B1 Binning(分選) | 訂購65120B可附贈選配D1/D2其中之一 | |||||||
1J1012 SMD二線式測試治具 | 5-654-7010 Transfer Standard Kit-Dip(插件式校準(zhǔn)件) | |||||||
1J1014 SMD四線式測試治具 | 5-654-7011 Transfer Standard Kit-SMD(SMD標(biāo)準(zhǔn)件) | |||||||
1EVA40120 SMD鑷子式測試治具 | ||||||||
尺寸/凈重量 | 尺寸(mm)190/H×440/W×525/D 凈重量14.5Kg |
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