SS-LCL-4  光學(xué)非線(xiàn)性測(cè)量?jī)x

儀器簡(jiǎn)介：

光學(xué)非線(xiàn)性測(cè)量?jī)x，主要采用激光Z掃描技術(shù)，同時(shí)考慮飽和光譜測(cè)量方法,光限制測(cè)量方法及其光模式傳輸測(cè)量等技術(shù),綜合考慮設(shè)計(jì)而成,其光路簡(jiǎn)單（采用單光束），測(cè)量靈敏度高，可同時(shí)測(cè)量樣品的非線(xiàn)性折射率和非線(xiàn)性吸收系數(shù)及光斑信息和光學(xué)限制效應(yīng)等。本儀器采用多種光信號(hào)測(cè)量探測(cè)器（光電倍增管、硅光電池、CCD等），可用脈沖激光、連續(xù)激光等作為光源，光電信號(hào)既可用儀器本身電箱測(cè)量，還可以外接積分器和鎖相放大器等，實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)（Windows 多檔畫(huà)面）自動(dòng)控制和測(cè)試，并配有多種附件，適用于液體、固體樣品的測(cè)量。儀器結(jié)構(gòu)新穎、價(jià)格適中、功能完善，適合各高等院校教學(xué)和科研的需求.

實(shí)驗(yàn)原理和內(nèi)容：

1、學(xué)習(xí)和掌握激光Z掃描技術(shù)

2、直接測(cè)量開(kāi)孔、閉孔及光斑信息、同時(shí)測(cè)量非線(xiàn)性折射性折射率和非線(xiàn)性吸收系數(shù)

3、利用多種光信號(hào)探測(cè)器和軟件系統(tǒng)以及附件，測(cè)量液體、固體樣品。

主要配置和參數(shù)：

1、Z掃描范圍： -50mm～+50mm  

2、采樣間隔 ：0.1 mm,0.2mm,0.5mm，1mm ,2mm,5mm

3、接 收 器： 光電倍增管 CR114，SP≥300,IDB, ≤5,R/W≥200、硅光電池： 、CCD                    

4、橫坐標(biāo)擴(kuò)展 ：任選；縱坐標(biāo)擴(kuò)展：任選

5、測(cè)量模式 :二 種  （透過(guò)率、能量）

6、掃描速度 :三 檔  （快、中 、慢）

7、掃描方式 ：連續(xù)、重復(fù)、時(shí)間掃描

8、電    源 ：AC220V　50Hz

9、數(shù)據(jù)處理：光譜背景基線(xiàn)記憶、光譜數(shù)據(jù)平滑運(yùn)算、光譜數(shù)據(jù)累加運(yùn)算、光譜數(shù)據(jù)四則運(yùn)算、光譜數(shù)據(jù)微分運(yùn)算。

10、設(shè)備尺寸：585*268*185mm

11、光學(xué)元件：分束器5:5、透鏡F=150、F=100、F=50、F=15、F=225、平面反射鏡：鍍膜30*5。

12、氦氖激光器：帶布魯斯特角，尺寸270mm;功率：≥1.2mw。

13、光學(xué)元件BK7 A精密退火材料，焦距±2%，直徑-0.2mm，中心偏差3′，光圈1-5；局部誤差為0.2-0.5，面粗糙度60/40（Scratch/Dig），氟化鎂增透膜鍍膜

14、精密機(jī)械調(diào)整架：角度精度±4′，分辨率0.005mm，調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)保證等雙軸等高，橫向偏差1′，縱向偏差1′