PARIO Plus 土壤粒徑自動分析儀基于斯托克斯定律（Stokes′ law）計算粒徑分布 , 其測量范圍為 63~2 μm。PARIO 的測量方法基于成熟的比重計法或吸管法，采用壓力傳感器以 10s 間隔連續(xù)記錄土壤懸濁液中特定位置的壓力和溫度變化，獲得完整的土壤顆粒粒徑分布曲線。

產(chǎn)品簡介

PARIO Plus 土壤粒徑自動分析儀在 PARIO 的基礎上進一步提升，測量準確度和效率均大幅提升。

2017 年 METER 研發(fā)的革命性的土壤粒徑分析設備 PARIO 上市。對比傳統(tǒng)的粒徑分析方法 PARIO 表現(xiàn)出絕對優(yōu)勢。傳統(tǒng)的比重計法（或吸管法）手工耗時 24 小時，費時費力易出錯，激光粒度儀法，設備昂貴，耗時長，且存在方法性偏差。PARIOPlus 設置好之后全程自動測量，僅需在測量結(jié)束時手動打開閥門。

測量時長縮短至僅需 2.5 小時，估計誤差低至 ±0.5%。PARIO Plus 從繁雜的實驗中解放科學家的雙手，全身心投入科學問題的研究。

測量原理

基于斯托克斯定律（Stokes′ law）計算粒徑分布 , 其測量范圍為 63~2 μm。PARIO 的測量方法基于成熟的比重計法或吸管法，采用壓力傳感器以 10s 間隔連續(xù)記錄土壤懸濁液中特定位置的壓力和溫度變化，獲得完整的土壤顆粒粒徑分布曲線。PARIO Plus 使用更精確的“擴展積分懸浮壓力法"（ISP+）（Durner et al., 2017）。另外，基于斯托克斯定律的 PARIO 不需要進行土壤特性的傳遞函數(shù)校正，而幾乎其它任何自動測量方法都要求進行這種校正，例如激光衍射法或圖像分析法。

主要特點

√ 測量速度快 設置好后，儀器運行僅需 2.5 小時。

√ 測量方法精準 估計誤差低至 ± 0.5%，低于任何傳統(tǒng)的粒徑分析方法。

√ 自動獨立運行 PARIO 允許無人值守，自動化操作，僅需在實驗結(jié)束時手動打開閥門。避免人工讀數(shù)和計算誤差。

√ 獲得高精度的連續(xù)粒徑分布曲線 與傳統(tǒng)方法測得少數(shù)一些離散時間點數(shù)據(jù)不同，PARIO 每 10 秒進行一次自動測量，并連續(xù)記錄懸浮液的壓力以及溫度變化。

√ 測量過程無擾動 不需要插入液體比重計，也不需要用移液管進行懸浮液的取樣，進而減少了對沉降的擾動。

√ 依據(jù)經(jīng)典原理 根據(jù)斯托克斯定律（Stokes′ law）計算粒徑分布，**匹配傳統(tǒng)實驗前期準備工作流程。

√ 黏粒含量直接測量獲得

√ 依據(jù)溫度自動綜合計算粒徑分布

√ 簡單易用一體化 為了您能節(jié)省更多時間，PARIO 采用了簡便易用的一體化軟件解決方案，輕松實現(xiàn)數(shù)據(jù)查詢、可視化操作、數(shù)據(jù)的計算及導出。

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)

粒徑范圍：2 ~ 63 μm

質(zhì)量分數(shù)檢測的近似誤差：PARIO Plus: ±0.5%；PARIO Classic: ±3.0%

壓力測量：準確度：±1.0 Pa；分辨率：±0.1 Pa

典型顆粒質(zhì)量：25 ~ 50 g/ 1L 懸濁液

典型測量時長：PARIO Plus: 3 h；PARIO Classic: 8.0 h 測量間隔：10 s

黏粒含量估算：根據(jù)抽取樣品綜合顆粒質(zhì)量獲得

砂粒含量估算：根據(jù)濕篩法測定結(jié)果得到

供電需求：USB 5 V/100 mA 電腦兼容：微軟 Windows 10

玻璃容器規(guī)格：高：450.0 mm；內(nèi)徑：59.0 mm，外徑：67.5 mm；體積：1,000 cm3；材質(zhì)：硼硅酸鹽玻璃 3.3

PARIO 儀器：高度：293.0 mm；直徑：80.0 mm ；材質(zhì)：POM 塑膠原料和不銹鋼

懸濁液容積：1000 mL

工作溫度：15~35 ℃；典型：20℃

測量中允許的最大溫度變化：±1.5 ℃

需要額外測量的參數(shù)：PARIO Classic: 有機質(zhì)含量 ( 如進行了有機質(zhì)去除 )；砂粒含量 ( 濕篩法 )；總懸濁液中分散鹽的質(zhì)量 

                                  PARIO Plus: 取樣測量干物質(zhì)總質(zhì)量；砂粒含量 ( 濕篩法 )；總懸濁液中分散鹽的質(zhì)量

纜線類型：USB 2.0；500 mA 用于接收端口

符合標準：生產(chǎn)制作遵循 ISO 9001:2015；EM ISO/IEC 17050:2010 (CE Mark)