OPTM 系列顯微分光膜厚儀 參考價(jià)：面議
OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕對(duì)反射率進(jìn)行測(cè)量，可進(jìn)行高精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。可通過非破壞性和非接觸方式測(cè)量涂膜的厚度，例如各...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo 參考價(jià)：面議
ELSZ series的高級(jí)機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的裝置。...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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