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日本alnair-labs光頻復(fù)用相干光學(xué)測量儀 Alnair Labs OTDR超高動態(tài)范圍23 dB 測量速度比傳統(tǒng) C-OTDR 快 10 至 40 倍 ...

日本進(jìn)口bellma非接觸式進(jìn)行張力計測量儀 液體轉(zhuǎn)向桿基本結(jié)構(gòu)與沖孔式風(fēng)轉(zhuǎn)桿相同。液槽內(nèi)的液體通過泵加壓，通過水壓使基材浮起。排入液罐循環(huán)使用。

日本bellma吸風(fēng)輥用于各種基材張力切割測量 吸水輥該卷的基本結(jié)構(gòu)是在擠壓鋁材上形成狹縫，并以所需的間隔將金屬絲與狹縫成直角纏繞。它的結(jié)構(gòu)是利用鼓風(fēng)機對金屬絲...

日本tsubosaka進(jìn)口亮度計可輕松測量亮度 TSUBOSAKA/壺坂電機 LC-5只需將其壓在亮度表面即可輕松輕松地測量亮度緊湊、方便的類型，可在任何情況下...

日本mcrl村上色彩高精度霧度計測量儀雙光束 HM-65N采用φ65mm積分球，按照標(biāo)準(zhǔn)測量測量面積為φ6mm！

日本mcrl村上色彩霧度計高精度透射率測量儀 HM-150N消除光源偏振特性并最大限度減少儀器誤差的霧度計！

日本mcrl村上色彩便攜式反射率計工業(yè)測量 CM-53P/CM-53D開發(fā)用于工業(yè)產(chǎn)品和其他物體表面的測量和質(zhì)量控制。

日本mcrl村上色彩鏡面反射率測量儀夜間檢測 RM-9S基于汽車鏡裝置標(biāo)準(zhǔn)的直接測量方法，垂直緊湊地設(shè)計。

日本mcrl村上色彩積分球式測量全反射率計 RM-5測量反射表面的總反射率該裝置測量反射表面（金屬沉積表面、金屬拋光表面、電鍍表面、鏡子等）的總反射率。

日本mcrl村上色彩積分球式光譜透過率測量儀 DOT-41該儀器作為使用積分球的漫射照明法測量透射率的分光光度計有著良好的記錄，它可以從漫射光的樣品中獲得穩(wěn)定的...

日本mcrl村上色彩積分球式光譜透過率測量儀 DOT-7該裝置（DOT-7型）是DOT系列的最新型號。我們通過更新外部并使用LED作為光源來提高測量的再現(xiàn)性。

日本mcrl村上色彩分光光度計測量皮膚和牙齒 CMS-35FS本儀器（CMS-35FS型號）是一款可以直接測量無法取樣的樣品的分光光度計。

日本graytechnos進(jìn)口LED光源光纖測量儀測定 mini352〇LED光源〇一鍵式調(diào)制（CW/2KHz/1KHz/270Hz）

日本JUSTEM晶圓檢測/測量設(shè)備手動測厚機 STM-06手動手柄和秤允許在固定位置進(jìn)行測量。

PM2.5數(shù)字粉塵儀光散式方式環(huán)境測量設(shè)備SIBATA/日本柴田科學(xué)LD-5R●內(nèi)置泵確保吸入流量穩(wěn)定。●可通過切換按鈕在液晶屏上顯示測量過程中的累計計數(shù)值、瞬...

日本SIBATA數(shù)字粉塵儀環(huán)境測量系統(tǒng)檢查儀SIBATA/日本柴田科學(xué) LD-3S●與以往的LD-3C型相比，進(jìn)一步縮小了尺寸和重量，實現(xiàn)了約63%的體積比?！?..

內(nèi)置打印機的膜厚計測量統(tǒng)計打印KETT/日本L-500內(nèi)置打印機膜厚儀機型電磁探頭和渦流探頭單獨出售（必需選件）塊/組統(tǒng)計計算功能

中型雙式膜厚計電磁和渦流探頭涂層測厚儀KETT/日本LZ-373中型雙膜測厚儀包括電磁探頭和渦流探頭測量范圍 電磁式：0～2500 µm，渦流式：0～...

高頻渦流膜厚儀測厚儀非磁性金屬上的膜厚度KETT/日本LH-373測量非磁性金屬上的絕緣膜厚度中型渦流膜厚儀測量范圍0~1200μm數(shù)據(jù)內(nèi)存39000點，統(tǒng)計計...

電磁膜厚計厚度測量電磁式鍍層測厚儀KETT/日本LE-373測量磁性材料上非磁性涂層的厚度中型電磁膜厚儀測量范圍0~2500μm數(shù)據(jù)內(nèi)存39000點，統(tǒng)計計算功...