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當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>光學(xué)器件>>干涉儀>> IFM日本進(jìn)口Akion激光光學(xué)干涉條紋分析裝置
產(chǎn)品型號IFM
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間：2024-10-08 11:56:07瀏覽次數(shù)：537次
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日本Kiyohara干涉儀檢查儀便攜式可現(xiàn)場檢測
日本進(jìn)口Akion激光光學(xué)干涉條紋分析裝置
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合 |
|---|
日本進(jìn)口Akion激光光學(xué)干涉條紋分析裝置 IFM 特點(diǎn)介紹
通過利用激光干涉儀觀察到的干涉條紋圖像，對拋光表面的表面精度和光學(xué)元件的透射波前精度進(jìn)行量化和可視化，從而獲得精度更高、更易于理解且有助于提高質(zhì)量控制的產(chǎn)品。
新開發(fā)的IFM兼容最新的操作系統(tǒng)，通過引入新算法提高了測量精度，并具有滿足各種需求的分析功能。這是一種操作簡單、任何人都可以使用的干涉條紋分析裝置。
日本進(jìn)口Akion激光光學(xué)干涉條紋分析裝置 IFM 規(guī)格參數(shù)
?使用圖標(biāo)操作，即使是初學(xué)者也能輕松進(jìn)行測量
?通過引入圖像處理技術(shù)，提高相位連接精度
?增加各種分析功能
→ 澤尼克系數(shù)：可以使用邊緣澤尼克系數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)澤尼克系數(shù)進(jìn)行分析
→ 醫(yī)療記錄青色系數(shù)：在正交坐標(biāo)系和像差消除功能
→ 用戶自定義功能分析：Zernike、PV、彗形像差、功率等計算功能
→ 相位數(shù)據(jù)計算功能：平均處理、2 球法、3 平面法
→ 異常自動消除功能圖像（灰塵、劃痕）
、PV值、RMS值、賽德爾像差（球面/慧差/長寬比）、3D（鳥瞰圖）、2D（輪廓圖）、截面分析等。
[配置項目]
IFM干涉條紋分析軟件、移相器（壓電驅(qū)動方式）、控制驅(qū)動器（移相器驅(qū)動、圖像數(shù)據(jù)A/D轉(zhuǎn)換等） PC、計算機(jī)架
[分析項目]
PV值、RMS值、鳥類眼睛視圖、輪廓線圖、橫截面視圖、賽德爾像差
ISO 兼容：IRR（Ascuse）、RSI（質(zhì)量）
Zernike 系數(shù)：Fringe Zernike（36 項）、Standard Zernike（45 項）
用戶定義函數(shù)、頻率分析、
【分析像素標(biāo)準(zhǔn)】640×480像素（特殊訂單：300萬像素）
【等級】 10bit
【電源】 AC100V 50/60Hz 2A
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