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MESA-50有害元素X-射線熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
儀器特點(diǎn)：1、能量色散型X射線分析儀，無需樣品前處理可檢測(cè)化學(xué)元素AL-U2、采用SDD檢測(cè)器無需液氮制冷，靈敏度更高，維護(hù)更方便。3、中文軟件，操作方便。
ROHS/ELV/WEEE有害元素?zé)晒釾射線檢查裝置 參考價(jià)：面議
ROHS/ELV/WEEE有害元素?zé)晒釾射線檢查裝置在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上，Horiba又推出用于微區(qū)分析的X熒光分析儀。XGT...
堀場(chǎng)X射線熒光分析儀 參考價(jià)：面議
堀場(chǎng)X射線熒光分析儀Horiba X射線熒光分析儀能對(duì)電子電器產(chǎn)品中所含有的有害物質(zhì)如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進(jìn)行快速而準(zhǔn)確的分析。另外，通過CCD攝像頭可以清...
HORIBA堀場(chǎng)X射線熒光有害元素分析儀 參考價(jià)：面議
HORIBA堀場(chǎng)X射線熒光有害元素分析儀X射線導(dǎo)向管聚焦技術(shù)保證了較高的檢測(cè)精度；厚度自動(dòng)修正；CL元素自動(dòng)修正：同軸CCD技術(shù)；X射線零外溢；隨機(jī)攜帶12塊標(biāo)...
臺(tái)式能量色散X射線熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
臺(tái)式能量色散X射線熒光光譜儀秉承了其前代產(chǎn)品安全、可靠和易用的優(yōu)點(diǎn)。同時(shí)，新裝備的硅漂移探測(cè)器讓它的計(jì)數(shù)率和分辨率提升到了新水平。
微區(qū)掃描X射線熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
微區(qū)掃描X射線熒光光譜儀不但可以對(duì)樣品的表面進(jìn)行常規(guī)分析，也可以對(duì)樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析。
X射線熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
XGT-1000WR熒光光譜儀樣品檢測(cè)倉大、無需更換濾光片（濾波片）、無需樣品形狀的預(yù)處理；厚度自動(dòng)修正；CL元素自動(dòng)修正：同軸CCD技術(shù)；X射線零外溢；隨機(jī)攜...
六價(jià)鉻顯色劑 參考價(jià)：面議
本試劑僅用于快速、無損辨別產(chǎn)品中是否含六價(jià)鉻；很大程度縮短了測(cè)試時(shí)間、提高了測(cè)試效率、降低了測(cè)試成本。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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