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半導(dǎo)體光學(xué)檢測系列

SiC襯底位錯缺陷無損檢測系統(tǒng)

SiC晶圓少子壽命質(zhì)量成像監(jiān)測系統(tǒng)

鈣鈦礦太陽能電池綜合性能分析系統(tǒng)

Micro LED晶圓級綜合檢測分析系統(tǒng)

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碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng) 參考價：面議
碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng)：最高檢測速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分類識別。
型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：大連市對比

SiC襯底位錯缺陷無損檢測無損檢測儀

2024/12/4 11:14:451582

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