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DIL 806 光學(xué)熱膨脹儀

技術(shù)

DIL 806 光學(xué)熱膨脹儀采用了創(chuàng)新的測(cè)量原理，使非傳統(tǒng)的熱膨脹實(shí)驗(yàn)成為可能，并改善了許多傳統(tǒng)的測(cè)試

測(cè)量原理

DIL 806采用了陰影光的方法。在該方法中，通過(guò)測(cè)量CCD探測(cè)器上樣品的陰影來(lái)測(cè)量一個(gè)方向上樣品的絕對(duì)尺寸的大小。 高強(qiáng)度的GaN LED發(fā)出平面光，通過(guò)一個(gè)擴(kuò)散單元和準(zhǔn)直透鏡，產(chǎn)生高度均勻的、短波平面光。該光的一部分被樣品阻擋。有陰影的光束通過(guò)遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行精細(xì)處理，并由高分辨率的CCD探測(cè)器記錄。數(shù)字邊緣檢測(cè)自動(dòng)確定陰影的寬度，進(jìn)而測(cè)定樣品的尺寸。

絕對(duì)測(cè)量的優(yōu)勢(shì)

DIL 806測(cè)量本質(zhì)上是一個(gè)絕對(duì)的測(cè)量，不受隨溫度程序變化的系統(tǒng)熱膨脹的影響。 只有樣品經(jīng)歷溫度的變化，光源和檢測(cè)器與這些變化相隔離。因此，測(cè)量是絕對(duì)的，不需要進(jìn)行頂桿式膨脹儀使用中常見(jiàn)的特定測(cè)試的校準(zhǔn)。