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玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司
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FE-300日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢光學(xué)膜厚量測儀
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- FE-300 產(chǎn)品型號
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訪問次數(shù)：478更新時(shí)間：2024-08-29 13:49:45
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|
日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢光學(xué)膜厚量測儀
這是一款小型、低成本的膜厚計(jì)，采用高精度光學(xué)干涉法測量膜厚，操作簡單。
我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備存儲在主體內(nèi)，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。
盡管價(jià)格低廉，但也可以通過獲得絕對反射率來分析光學(xué)常數(shù)。
產(chǎn)品介紹
日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢光學(xué)膜厚量測儀這是一款小型、低成本的膜厚計(jì)，采用高精度光學(xué)干涉法測量膜厚，操作簡單。
我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備存儲在主體內(nèi)，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。
盡管價(jià)格低廉，但也可以通過獲得絕對反射率來分析光學(xué)常數(shù)。
日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢光學(xué)膜厚量測儀產(chǎn)品信息：
特征：
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緊湊、低成本、易于操作的膜厚測量。
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通過選擇光譜儀和光源可以選擇測量膜厚范圍。
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簡單的條件設(shè)定和測量操作，任何人都可以輕松測量。
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配備實(shí)時(shí)監(jiān)控功能、模擬功能等。
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測量光斑直徑φ3mm（標(biāo)準(zhǔn)），支持從3nm到35μm的薄膜到厚膜的廣泛測量。
測量項(xiàng)目
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絕對反射率測量
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膜厚分析（10層）
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光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）
測量目標(biāo)
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功能膜、塑料
透明導(dǎo)電膜（ITO、銀納米線）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合劑、粘合劑、保護(hù)膜、硬涂層、防指紋代理等。 -
半導(dǎo)體
化合物半導(dǎo)體、Si、氧化膜、氮化膜、抗蝕劑、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、藍(lán)寶石等。 -
表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等。 -
光學(xué)材料
濾光片、增透膜等。 -
FPD
LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機(jī)薄膜、封裝材料）等。 -
其他
硬盤、磁帶、建筑材料等。
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