| 保修期限 |
無 |
產(chǎn)地類別 |
進口 |
| 產(chǎn)品成色 |
7成新 |
使用年限 |
7年以上 |
| 應用領域 |
電子,航天,汽車,電氣 |
二手E5071C 矢量網(wǎng)絡分析儀具有較高的射頻性能和較快的速度，并具有寬頻率范圍和全面的功能。它是制造和研發(fā)工程師們測試頻率范圍在 20 GHz 以內(nèi)的射頻元器件和電路的理想解決方案。
二手E5071C 矢量網(wǎng)絡分析儀具有較高的射頻性能和較快的速度，并具有寬頻率范圍和全面的功能。它是制造和研發(fā)工程師們測試頻率范圍在 20 GHz 以內(nèi)的射頻元器件和電路的理想解決方案。
新款 20 GHz 選件可將 E5071C ENA 系列網(wǎng)絡分析儀的頻率范圍擴展至 20 GHz。新款 20 GHz 選件支持雙端口(選件 2K5)和四端口(選件 4K5)兩種配置，可用于測量各種成分，例如 WLAN、WiMAX™、UWB 或任何 4G 技術中的無源器件的第三個諧波。
頻率范圍：300 kHz至8.5GHz
*在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值)
*寬動態(tài)范圍：在測試端口上的動態(tài)范圍>123 dB(典型值)
*極快的測量速度：39 ms(進行雙端口校準，掃描1601點時)
*低跡線噪聲：0.004 dB rms(70 kHz IFBW時)
*集成的2和4端口，帶有平衡測量能力主要特性與技術指標
E5071C廣泛的動態(tài)范圍：在測試端口處具有>123 dB的動態(tài)范圍(典型值)
E5071C極快的測量速度：全雙端口校準時為41 ms，1601點
E5071C低跡線噪聲：70 kHz中頻帶寬(IFBW)處為0.004 dB rms
E5071C集成的S參數(shù)測試裝置
E5071C端口選項：2端口和4端口
E5071C平衡測量能力(4端口選件)
E5071C頻率選件：9 kHz至4.5 GHz/8.5 GHz、100 kHz至4.5 GHz/8.5 GHz(帶有偏置T型接)
E5071C矢量網(wǎng)絡分析儀的說明：網(wǎng)絡分析儀E5071C操作說明介紹，ENA 9 kHz至4.5/6.5/8.5/14/20 GHz 2或4端口，50Ω，S參數(shù)測試儀。
二手E5071C 矢量網(wǎng)絡分析儀操作說明：
(一)設置測量條件
(二)校準
(三)其他設置
E5071C設置測量條件：
1.設置通道布局
a.按“Display"(顯示)鍵>“Allocate Channels"(分配通道)。
b.按所需功能鍵以選擇如下所示的窗口布局。
2.設置跡線布局
a.按工作通道/跡線區(qū)的“Channel Next"(下一通道)(或“Channel Prev"(上一通道))，以選擇要設置跡線號的通道；
b.按響應區(qū)的“Display"(顯示)>點取屏幕右側菜單中的“Number of Traces"(跡線數(shù))；
C.按“Allocate Traces"(分配跡線)，從跳出的跡線的布局窗口中選擇需要的布局方式。
3.為每個設置項目設置參數(shù):
4.測試坐標刻度設置
a.自動定坐標：首先選定需要定坐標刻度的通道，然后按“Scale"(刻度)>“AutoScale"(自動定標)。
b.手動刻度調(diào)整：
b-1首先選定需要定坐標刻度的通道；
b-2按“Scale"(刻度)鍵；
b-3選擇需要調(diào)整的特定功能所對應的功能鍵：
E5071C校準：
1.ECal(電子校準)
a.通過USB電纜將ECal模塊上的USB端口與E5071C上的USB端口相連接。可以在E5071C的電源接通時進行此連接；
b.使ECal模塊預熱15分鐘，直至模塊的指示從“WAIT"(等待)變?yōu)椤癛EADY"(就緒)；
c.將ECal模塊上的端口連接到要校準的測試端口；
d.如果未利用ECal模塊的所有端口，應將終端連接到未利用的端口；
e.按“Channel Next"(下一通道)/“Channel Prev"(上一通道)鍵，選擇要進行校準的通道；
f.按“Cal"(校準)鍵；
g.單擊菜單的“ECal"(電子校準)>“1-Port Cal"(1端口校準)；
h.通過單擊所選端口的功能鍵進行1端口校準。
2.手動校準
a.按“Channel Next"(下一通道)/“Channel Prev"(上一通道)鍵，選擇要進行校準的通道；
b.按“Cal"(校準)鍵；
c.選用對應的校準件(如85033D校準件)，并點擊“Cal Kit"選擇對應的校準模塊。
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