目錄:上?；蹗箤?shí)業(yè)有限公司>>實(shí)驗(yàn)室分析>>實(shí)驗(yàn)室高純鍺 γ 譜儀>> XtRa Ge：延展型鍺探測(cè)器（GX系列）
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更新時(shí)間：2025-02-24 07:34:39瀏覽次數(shù)：738評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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XtRa Ge：延展型鍺探測(cè)器（GX系列）簡(jiǎn)介
延展型鍺探測(cè)器（GX系列探測(cè)器）前表面的這個(gè)接觸點(diǎn)設(shè)計(jì)得非常薄，減少低能量伽馬射線在進(jìn)入探測(cè)器時(shí)的衰減，從而增強(qiáng)探測(cè)器對(duì)低能射線的響應(yīng)能力。由于這種設(shè)計(jì)，探測(cè)器能夠探測(cè)到低至3 keV的伽馬射線能量，擴(kuò)展了其應(yīng)用范圍，特別是在需要檢測(cè)低能量輻射的場(chǎng)合。
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XtRa Ge：延展型鍺探測(cè)器（GX系列）特點(diǎn)
1、能量范圍3 keV~＞10 MeV
2、效率范圍廣泛
3、具有高能量分辨率，能夠在能譜測(cè)量中提供清晰的、容易區(qū)分的峰形
4、高能量率處理能力
5、具有出色的時(shí)間分辨率
6、二極管FET保護(hù)
7、配備了智能前置放大器
8、預(yù)熱/高壓關(guān)閉
9、USB 2.0 串行接口
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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