X熒光光譜儀 下照式鍍層測厚儀

T300V下照式鍍層測厚儀

T300V是佳譜儀器集多年X熒光光譜儀技術(shù)積累與鍍層應(yīng)用經(jīng)驗，專門設(shè)計研發(fā)的 一 款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測厚 儀，性價比高、適用性強(qiáng)。該款采用優(yōu)良的FP算法同時搭配高速數(shù)字多道技術(shù)，  應(yīng)對各大小平面件、曲面件金屬鍍層及電鍍液檢測時檢出 限低，性能穩(wěn)定，檢出限可達(dá)0.005um，是一款頗具客戶 好評的C型腔體設(shè)計的實(shí)用型膜厚儀。

應(yīng)用領(lǐng)域

優(yōu)良配置，值得更優(yōu)性能

相比圖2普通接收器，T300V采用了更為優(yōu)良的高分辨率探測器，能將不同元素的信號準(zhǔn)確 解析，針對單層、多層或復(fù)雜合金鍍層的測量，測量精度更高，穩(wěn)定性更好。

儀器參數(shù)

選擇T300V的理由

檢測實(shí)例

     電鍍層，油漆層，陶瓷層，鋁瓦，銅瓦，磷化層，紙張的厚度測量，也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測量。具有耐磨硬質(zhì)金屬探針的彈簧導(dǎo)套式探頭，不但能在堅硬或粗糙的表面上進(jìn)行測量，而且能保證測頭具有不變的壓緊力和穩(wěn)定的取樣植。使用一款快速、連接、可靠的，簡化超聲厚度檢測流程。測厚儀可用作精密或腐蝕測厚儀，滿足苛刻的應(yīng)用要求。測厚儀具有優(yōu)良的超聲功能、高達(dá)60 Hz更新率的快速掃描速度以及集成的無線連接功能，能夠在無縫工作流程中提供值得信賴的結(jié)果。連接：集成藍(lán)牙、USB、RS-232和可移動microSD卡*快速：以快2倍的顯示更新率掃描最小厚度區(qū)域**用途廣泛：使用我們的全系列雙晶和單晶探頭，可應(yīng)對多種厚度應(yīng)用鍍層膜厚儀，簡稱為，鍍層厚度檢測儀，是用來專業(yè)測量，金鎳，銅厚，等，鍍層的厚度的標(biāo)準(zhǔn)儀器。簡介 鍍層膜厚儀，簡稱為，鍍層厚度檢測儀，是用來專業(yè)測量，金鎳，銅厚，等，鍍層的厚度的標(biāo)準(zhǔn)儀器。檢測鍍層厚度也有一定要求，鍍層厚度要求分散能力是具有比

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