高性能多用型XRF 測厚儀 X熒光光譜儀返回列表頁

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產(chǎn)品型號鍍層測厚T-450plus

品牌佳譜儀器

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地蘇州市

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更新時間：2025-02-28 09:43:04瀏覽次數(shù)：68次

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鍍層測厚儀系列產(chǎn)品: 高性能膜厚下照式鍍層測厚儀一機多用型光譜復(fù)雜合金鍍層超聲厚度檢測 RoHS檢測 X射線儀全自動性能膜厚儀 RoHS和全元素分析物理特性分析物理特性分析儀器 > 測厚儀測厚儀 > 鍍層測厚儀分析儀器 X射線熒光光譜儀(XRF) 金屬多元素分析儀 T450系列專精性能膜厚儀 T450plus系列高性能多用型實用型多功能XRF T350plus T300V下照式鍍層測厚儀 T450plus系列高性能多

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	價格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,地礦,建材,電子,綜合

T450plus系列為滿足生產(chǎn)管控和研發(fā)領(lǐng)域中高精度鍍層厚度或精確材料成分分析而研制的一款多用型X熒光光譜儀，可為任何應(yīng)用提供優(yōu)良性能的儀器選擇。高性能多用型XRF 測厚儀 X熒光光譜儀

高性能多用型XRF 測厚儀 X熒光光譜儀

T450plus系列高性能多用型XRF

高性能多用型XRF 測厚儀 X熒光光譜儀

涂鍍層分析

RoHS檢測

元素分析

T450plus系列為滿足生產(chǎn)管控和研發(fā)領(lǐng)域中高精度鍍層厚度或精確材料成分分析而研制的一款多用型X熒光光譜儀，可為任何應(yīng)用提供優(yōu)良性能的儀器選擇。

該系列儀器采用微聚焦增強型射線管和數(shù)字多道脈沖信號處理技術(shù)，同時搭載增強FP算法軟件與變焦裝置，再加上高性能大面積探測器，無論在檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，還是RoHS和元素分析方面，均具備出色的重復(fù)精度，這也是它廣受客戶、研究所等機構(gòu)歡迎的原因。

技術(shù)參數(shù)

性能優(yōu)勢

高穩(wěn)定微聚焦集成系統(tǒng)	采用自主研發(fā)設(shè)計的高穩(wěn)定性微聚焦增強型射線管和聚焦光路系統(tǒng)，最小測量點可達0.25mm。
搭載高性能探測器	分辨率至129eV±5eV，能量線性和能量分辨率俱佳，具有更高的穩(wěn)定性和精度。
高精度	含量檢出限可達1ppm，厚度檢出限可達1nm。
變焦補償算法	可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍 0-25mm。
使用壽命長	采用自主研發(fā)的多維散熱系統(tǒng)，同時同樣的測試面積功率更低，整機與射線管使用壽命更長。

應(yīng)用領(lǐng)域

快速分析	智能體驗		超高精度
穩(wěn)定性高		功能強大

高性能多用型XRF 測厚儀 X熒光光譜儀

環(huán)保檢測解決方案