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當前位置：佳譜儀器（蘇州）有限公司>>鍍層測厚儀系列產(chǎn)品>>物理特性分析儀器 > 測厚儀>> 鍍層測厚T-450plus高性能多用型XRF 測厚儀 X熒光光譜
產(chǎn)品型號鍍層測厚T-450plus
品 牌佳譜儀器
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地蘇州市
更新時間：2025-03-05 09:09:46瀏覽次數(shù)：126次
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環(huán)保,地礦,建材/家具,電子/電池,綜合 |
高性能多用型XRF 測厚儀 X熒光光譜
T450plus系列高性能多用型XRF
涂鍍層分析 | RoHS檢測 | 元素分析 |
T450plus系列為滿足生產(chǎn)管控和研發(fā)領域中高精度鍍層厚度或精確材料成分分析而研制的一款多用型X熒光光譜儀，可為任何應用提供優(yōu)良性能的儀器選擇。
該系列儀器采用微聚焦增強型射線管和數(shù)字多道脈沖信號處理技術，同時搭載增強FP算 法軟件與變焦裝置，再加上高性能大面積探測器，無論在檢測微小樣品和凹槽的膜厚性 能，還是RoHS和元素分析方面，均具備出色的重復精度，這也是它廣受客戶、研究所等機構歡迎的原因。
技術參數(shù)
型號 | T450 plus | T450S plus |
成分分析檢測 | S（16） - U（92） | Al（13） - U（92） |
涂鍍層分析 | Li（3） -U（92） | |
ROHS檢測 | 標配，檢出限可達2ppm | 標配，檢出限可達1ppm |
算法 | 增強型FP算法 | |
分析軟件 | 可同時分析15層鍍層，24種元素 | |
射線方向 | 從下往上 | |
X射線發(fā)生裝置 | 微聚焦增強型射線管 | |
探測器 | 高性能Si-Pin半導體探測器 | FAST SDD探測器 |
高壓 | 0-50KV智能程控高壓系統(tǒng) | |
準直器 | φ0.3mm(φ0.2mm)/φ0.5mm/φ3mm 多準自動切換 | |
樣品觀察 | 工業(yè) CCD 高清攝像頭 | |
對焦方式 | 手動對焦 | |
放大倍數(shù) | 光學30-50X，數(shù)字放大40-160倍 | |
移動平臺 | 微米級移動平臺 | |
操作環(huán)境溫濕度 | 10~35℃,濕度≤70% | |
工作電源 | 交流220±5V | |
安全系統(tǒng) | 多維散熱系統(tǒng)，多重輻射安全系統(tǒng) | |
性能優(yōu)勢
高穩(wěn)定微聚焦集成系統(tǒng) | 采用自主研發(fā)設計的高穩(wěn)定性微聚焦增強型射線管和聚焦光路系統(tǒng)，最小測量點可達0.25mm。 |
搭載高性能探測器
| 分辨率至129eV±5eV，能量線性和能量分辨率俱佳，具有更高的穩(wěn)定性和精度。 |
高精度 | 含量檢出限可達1ppm，厚度 檢出限可達1nm。 |
變焦補償算法 | 可對各種異形凹槽件進行無損檢 測，凹槽深度范圍 0-25mm。 |
使用壽命長 | 采用自主研發(fā)的多維散熱系統(tǒng)，同時同樣的測試面積功率更低，整機與 射線管使用壽命更長。 |
應用領域
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環(huán)保檢測解決方案
歐盟ROHS指令-2011/65/EU | REACH指令 |
無鹵指令[IEC61249-2-21] | 玩具En71指令 |
美國CPSIA消費品安全改進法 | IEC62321標準 |
China-RoHS國推自愿性認證 | GB/T26125-2011 |
T450plus系列高性能多用型XRF
高性能多用型XRF 測厚儀 X熒光光譜
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