日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測(cè)儀OPTM-H3
與桌上型光學(xué)膜厚儀相比，Smart膜厚儀在“現(xiàn)場(chǎng)"以非破壞式直接量測(cè)樣品，且可以量測(cè)特殊形狀樣品。
與接觸式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不僅不會(huì)破壞您的樣品，也不會(huì)因用戶不同而產(chǎn)生誤差且遠(yuǎn)高于接觸式膜厚的量測(cè)精度。
與渦電流/電磁式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不需要制作檢量線，且可以量測(cè)非金屬基材并且得到絕對(duì)值！

非接觸式載臺(tái)

對(duì)于濕膜或半導(dǎo)體晶圓等不想接觸的樣品，可以通過自由設(shè)定探頭位置進(jìn)行非接觸測(cè)量。

產(chǎn)品開發(fā)-量測(cè)試作品

1.攜帶到合作廠商等，直接在現(xiàn)場(chǎng)量測(cè)效率Up

2.試作階段的檢查方法商定效率Up

規(guī)格樣式

選配

筆型探頭

能夠測(cè)量狹窄區(qū)域或形狀的樣品。 探頭端Φ6mm。