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2023
06-04

XRD術(shù)語
1、計數(shù)率在衍射儀方法中，X射線的強(qiáng)度用脈沖計數(shù)率表示，單位為每秒脈沖數(shù)(cps）。檢測器在單位時間輸出的平均脈沖數(shù)，直接決定于檢測器在單位時間接收的光子數(shù)。如果檢測器的量子效率為100％，而系統(tǒng)（放大器和脈沖幅度分析器等）又沒有計數(shù)損失（漏計），那么每秒脈沖數(shù)便是每秒光子數(shù)。2、能量分辨是指檢測器接收某一能量的量子（某一波長射線的光量子)，所輸出脈沖信號的平均幅度與入射量子的能量成正比的特性。3、閃爍檢測器各種晶體X射線衍射工作中通用性能常用的檢測器。它的主要優(yōu)點(diǎn)是：對于晶體X射線衍射使用的X
2023
05-17

電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀的分析原理與應(yīng)用介紹
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP—OES)主要用于液體試樣(包括經(jīng)化學(xué)處理能轉(zhuǎn)變成溶液的固體試樣)中金屬元素和部分非金屬元素的定量分析。原理：原子發(fā)射光譜分析是根據(jù)原子所發(fā)射的光譜來測定物質(zhì)的化學(xué)組分的。不同的物質(zhì)由不同元素的原子所組成，而原子都包含這一個結(jié)構(gòu)緊密的原子核，核外圍繞著不斷運(yùn)動的電子。每個電子處在一定的能級上，具有一定的能量。在正常的情況下，原子處于穩(wěn)定狀態(tài)，能量是最低的，這個狀態(tài)被稱為基態(tài)。當(dāng)原子在外界能量的作用下轉(zhuǎn)變氣態(tài)原子，并使氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)至高能態(tài)。當(dāng)從較高的能級
2023
05-14

X射線殘余應(yīng)力測定標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展
國外標(biāo)準(zhǔn)X射線法是由俄學(xué)者于1929年提出。20世紀(jì)初，人們就已經(jīng)開始利用X射線來測定晶體的應(yīng)力。1961年，德國的E.Mchearauch提出了X射線應(yīng)力測定的sin2ψ法，使應(yīng)力測定的實(shí)際應(yīng)用向前推進(jìn)了一大步。然而遺憾的是，隨著殘余應(yīng)力測試設(shè)備制造技術(shù)的快速發(fā)展，行業(yè)缺乏相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，缺少足夠的設(shè)備檢定技術(shù)依據(jù)，導(dǎo)致測試方法無所適從，各實(shí)驗(yàn)室很難進(jìn)行測試數(shù)據(jù)的比對和能力驗(yàn)證，很難具有公信力。1971年，美國汽車工程師學(xué)會發(fā)布第一個行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SAEJ784a"ResidentialStressMea
2023
05-14

YB∕T 5338—2006方法測試奧氏體含量的誤差影響
X射線衍射儀用Schulz反射法進(jìn)行殘余奧氏體含量測量，在測量過程中，試樣表面與X射線的聚焦平面重合，而且試樣在測量的過程中固定不動，通過θ和2θ軸的轉(zhuǎn)動(滿足Bragg方程)來完成測量，這時所測量的只是平行于試樣表面的那些晶面的衍射信息。因此，影響XRD殘余奧氏體定量的重要因素是晶粒的擇優(yōu)取向。以馬氏體的(200)晶面的衍射為例，如果晶粒雜亂無章分布，那么從統(tǒng)計學(xué)上不同位置處(200)晶面所占比例是一樣的；然而一旦存在擇優(yōu)取向，則不同位置處(200)所占的比例將不同，這樣在X射線衍射儀測量時，
2023
05-14

什么是XRD三強(qiáng)線
所謂三強(qiáng)線是指比對純物質(zhì)強(qiáng)的三根衍射峰位置，如果三強(qiáng)線位置比對成功，一般而言可以初步判定該種物質(zhì)的存在，具體的說，三強(qiáng)線指得是PDF卡片上強(qiáng)的三個衍射峰的值。以NaCl為例，參考05-0628，強(qiáng)的三峰是：200面：d=2.82100強(qiáng)度100.0；220面：d=1.99400強(qiáng)度55.0222面：d=1.62800強(qiáng)度15.0檢索的時候，先看實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)里有沒有200晶面的衍射峰。如果有，則繼續(xù)找220的，如果沒有則不用再找了，這說明試樣中不含有NaCl。當(dāng)這三個強(qiáng)峰都有的時候，就是符合三強(qiáng)峰原則
2023
04-26

巴克豪森法檢測殘余應(yīng)力
磁彈技術(shù)是在1919年發(fā)現(xiàn)的一種物理現(xiàn)象的基礎(chǔ)上發(fā)展而來的。鐵磁性材料是由許多小的像條型磁鐵狀的磁性區(qū)域組成的，這種磁性區(qū)域叫做磁疇；每個區(qū)域內(nèi)部包含大量原子，這些原子的磁矩都像一個個小磁鐵那樣整齊排列，但相鄰的不同區(qū)域之間原子磁矩排列的方向不同。各個磁疇之間的交界面稱為磁疇壁。磁場會引起磁疇壁來回的移動，當(dāng)磁疇的一側(cè)磁疇壁收縮而另一側(cè)的磁疇壁增長時會導(dǎo)致磁疇有序的移動。磁疇的變化會使磁化總量發(fā)生改變。用電磁線圈靠近樣品，磁疇壁移動時產(chǎn)生的磁變化量會使線圈中產(chǎn)生一個脈沖電流。1919年巴克豪森教
2023
04-26

殘余奧氏體對各種零件的影響
零件淬火后總是會多多少少的留出一些未轉(zhuǎn)換的殘余奧氏體。太多的殘余奧氏體對零件的使用期限和強(qiáng)度不好，會導(dǎo)致軟點(diǎn)和規(guī)格的多變性，但適當(dāng)?shù)臍堄鄪W氏體能夠提升零件的疲勞強(qiáng)度。我們可以經(jīng)過控制殘余奧氏體來控制產(chǎn)品品質(zhì)和使用期限，以做到預(yù)期目標(biāo)。1.殘余奧氏體對各種零件的影響（1）滾動軸承規(guī)定有優(yōu)良的耐磨性能、高的翻轉(zhuǎn)疲勞強(qiáng)度合好的外形尺寸精密度可靠性，在常見應(yīng)力水準(zhǔn)下殘余奧氏體對疲憊使用壽命影響并不大。具體制造中45號鋼淬火后，一般不歷經(jīng)冷處理。（2）傳動齒輪一般都不需冷處理。殘余奧氏體有益于其疲倦使用壽
2023
04-26

通過XRD圖譜確定樣品結(jié)構(gòu)
樣品材料的非晶、準(zhǔn)晶和晶體三者的結(jié)構(gòu)在XRD圖譜上并無嚴(yán)格明晰的分界。在X射線衍射儀獲得的XRD圖譜上，如果樣品是較好的"晶態(tài)"物質(zhì)，圖譜的特征是有若干或許多個一般是彼此獨(dú)立的很窄的"尖峰"（其半高度處的2θ寬度在0.1°~0.2°左右，這一寬度可以視為由實(shí)驗(yàn)條件決定的晶體衍射峰的"小寬度"）。如果這些"峰"明顯地變寬，則可以判定樣品中的晶體的顆粒尺寸將小于300nm，可以稱之為"微晶"。晶體的X射線衍射理論中有一個Scherrer公式：可以根據(jù)譜線變寬的量估算晶粒在該衍射方向上的厚度。非晶質(zhì)衍
2023
04-14

你知道常用的兩種汞含量測定方法是采用什么原理么？
汞元素作為一種毒性巨大的有害重金屬元素，對汞的分析監(jiān)測一直是生態(tài)環(huán)境監(jiān)測和農(nóng)業(yè)環(huán)境保護(hù)的重要內(nèi)容之一。國內(nèi)常用的土壤汞含量測定方法有原子熒光光譜法和冷原子吸收法。1、冷原子吸收法原理水樣經(jīng)消解后，將各種形態(tài)的汞轉(zhuǎn)變成二價汞，再用氯化亞錫將二價汞還原為元素汞。利用汞易揮發(fā)的特點(diǎn)，在室溫下通入空氣或氮?dú)饬鲗⑵錃饣?，載入冷原子吸收測汞儀，測量對特征波長光的吸光度，與汞標(biāo)準(zhǔn)溶液的吸光度進(jìn)行比較定量。汞原子蒸氣對253.7nm的紫外光有強(qiáng)烈吸收，并在一定濃度范圍內(nèi)，吸光度與濃度成正比。2、原子熒光光譜法原
2023
04-05

全反射X射線熒光(TXRF)應(yīng)用簡介
全反射X射線熒光(TXRF)具有優(yōu)異的檢出限（低至ppt或pg），與其它具有類似元素檢出限的檢測手段相比，具有基體效應(yīng)小、樣品需求量小、操作相對簡單、運(yùn)行成本低等優(yōu)勢。TXRF一次可以對70多種元素進(jìn)行同時分析，這是原子吸收ETAAS和FAAS方法難以完成的。與質(zhì)譜儀中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析NAA等方法相比較，TXRF分析方法在快速、簡便、經(jīng)濟(jì)、多元素同時分析、用樣量少、檢出限低、定量性好等方面有著綜合優(yōu)勢。同時，TXRF多采用內(nèi)標(biāo)法，無需特定標(biāo)準(zhǔn)樣品，儀器不需要額外冷卻設(shè)備，
2023
04-05

消除殘余應(yīng)力的方法
殘余應(yīng)力對工件有很大的危害，會使工件發(fā)生變形甚至是斷裂，而工件一旦發(fā)生變形就會對使用精度造成影響，所以消除殘余應(yīng)力顯得尤為重要?？v觀全球相關(guān)領(lǐng)域，消除殘余應(yīng)力的方法大約有四種：第一種是自然時效，通過自然放置消除殘余應(yīng)力，這種方法耗時過長，難以適應(yīng)現(xiàn)代科技及生產(chǎn)需要；第二種是傳統(tǒng)的方法——熱時效法，把工件放進(jìn)熱時效爐中進(jìn)行熱處理，慢慢消除殘余應(yīng)力。但這種方法的缺點(diǎn)也非常的顯著，對要求非常嚴(yán)格的工件或者是大型工件都無法用這種方法處理，而且這種方法還帶來了大量的污染和能源消耗，隨著中國及世界范圍內(nèi)對環(huán)
2023
04-05

生產(chǎn)過程中降低殘余奧氏體的對策
1.降低殘留奧氏體對策一般熱處理工藝淬火后開展馬氏體變化，與此同時難以避免還會發(fā)生殘留奧氏體。要清除或控制殘留奧氏體，關(guān)鍵有下列幾類方式：（1）提升冷處理。冷處理是淬火得持續(xù)其本質(zhì)是減少制冷終止溫度，使殘留奧氏體進(jìn)一步轉(zhuǎn)換為馬氏體。這在GCr15的柱塞偶件中普遍應(yīng)用，是促進(jìn)殘留奧氏體變化的有效的方式。一般殘留奧氏體控制在10%之內(nèi)。（2）用馬氏體淬火替代馬氏體淬火，即提升淬火終止溫度，一般在Ms點(diǎn)周邊等溫過程，使反應(yīng)轉(zhuǎn)化成金相組織和滲碳體產(chǎn)生的纖維狀下馬氏體的類均衡機(jī)構(gòu)，因不開展馬氏體變化，而降
2023
04-05

X射線衍射(XRD)的常見用途
做XRD有什么用途，能看出其純度？還是能看出其中含有某種官能團(tuán)？X射線照射到物質(zhì)上將產(chǎn)生散射。晶態(tài)物質(zhì)對X射線產(chǎn)生的相干散射表現(xiàn)為衍射現(xiàn)象，即入射光束出射時光束沒有被發(fā)散但方向被改變了而其波長保持不變的現(xiàn)象，這是晶態(tài)物質(zhì)*的現(xiàn)象。絕大多數(shù)固態(tài)物質(zhì)都是晶態(tài)或微晶態(tài)或準(zhǔn)晶態(tài)物質(zhì)，都能產(chǎn)生X射線衍射。晶體微觀結(jié)構(gòu)的特征是具有周期性的長程的有序結(jié)構(gòu)。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結(jié)構(gòu)立體場景的一種物理變換，包含了晶體結(jié)構(gòu)的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖。X射線衍射（XRD）是目前
2023
03-29

利用熱輻射原理，保持液體溫度低于沸點(diǎn)溫度蒸發(fā)，再將其酸蒸氣冷凝從而制備高純水和高純試劑，廣泛應(yīng)用于樣品處理及分析中。
酸純化器也稱酸蒸餾器、高純酸提取系統(tǒng)、酸純化系統(tǒng)、亞沸騰蒸餾器、高純酸蒸餾純化器。常規(guī)實(shí)驗(yàn)室分析中，各種酸及試劑被廣泛應(yīng)用于日常的樣品處理及分析中。然而，令眾多消費(fèi)者被感頭疼的是酸及試劑的純度。許多實(shí)驗(yàn)室常常由于酸的純度較差，造成分析結(jié)果的偏差與錯誤。市售的超純酸往往由于價格較貴，很難滿足日常分析中對酸的大量需求。因此，提純優(yōu)化酸的質(zhì)量，是最為經(jīng)濟(jì)可行的途徑。利用熱輻射原理，保持液體溫度低于沸點(diǎn)溫度蒸發(fā)，再將其酸蒸氣冷凝從而制備高純水和高純試劑，廣泛應(yīng)用于樣品處理及分析中。可以滿足ICP、ICP
2023
03-29

簡述酸純化器的作用及其特點(diǎn)
痕量分析技術(shù)如石墨爐原子吸收儀、ICP-OES、ICP-MS的檢測極限越來越好。為了能夠保證這些檢測極限，你需要所使用的酸或水有足夠的純度，以避免在稀釋樣品時將其他元素帶入到樣品中。酸純化器也稱酸蒸餾器、高純酸提取系統(tǒng)、酸純化系統(tǒng)、亞沸騰蒸餾器、高純酸蒸餾純化器。常規(guī)實(shí)驗(yàn)室分析中，各種酸及試劑被廣泛應(yīng)用于日常的樣品處理及分析中。可以滿足ICP、ICP-MS極低的檢測限需要及苛刻的分析應(yīng)用中提供實(shí)驗(yàn)室級超純酸，所用容器均采用Teflon耐腐蝕無吸附塑料，可以處理HNO3、HCL、HF等實(shí)驗(yàn)室的常用
2023
03-09

認(rèn)識吹掃-捕集裝置的一般組成
吹掃捕集（Purge&Trap），一項(xiàng)用于分析痕量級（10-9濃度，ppb）揮發(fā)性有機(jī)化合物（VOC，如苯系物）的技術(shù)，在1974年由美國辛辛那提市（Cincinnati）環(huán)保局的化學(xué)專家TomBellar所開發(fā)，使分析靈敏度比當(dāng)時現(xiàn)有方法提高了100倍。吹掃-捕集進(jìn)樣技術(shù)廣泛應(yīng)用于環(huán)境分析，如飲用水或廢水中的有機(jī)污染物分析。也用于食品中揮發(fā)物（如氣味成分）的分析。吹掃-捕集裝置一般由吹掃裝置、捕集器及解吸系統(tǒng)組成:(1)玻璃吹掃裝置可具有容納5mL或25mL樣品,當(dāng)檢測的靈敏度能以達(dá)到方法的檢
2023
02-26

X射線檢測殘余應(yīng)力分析儀的輻射安全標(biāo)準(zhǔn)
提到X射線，大家首先想到的就是輻射安全問題，是否有可能對人身造成傷害。X射線是電離輻射，對人體是有損傷的，接觸射線的時間越長，距離越近致病的危險性就越大，例如拍胸片、透視或者做CT等等。如果長時間的接觸X射線，因?yàn)閄射線的輻射劑量可以在身體內(nèi)累積，所以就會大量破壞人體的白細(xì)胞，使人體血液中的白細(xì)胞數(shù)量減少，進(jìn)而導(dǎo)致機(jī)體免疫功能下降，使病原微生物容易侵入機(jī)體而發(fā)生疾病。因此X射線類設(shè)備的安全問題尤為重要。GNR的殘余應(yīng)力分析儀裝有安全連鎖裝置，在射線及快門打開的情況下，艙門是無法打開的，如果強(qiáng)行打
2023
02-26

影響奧氏體形成速度的因素
1.加熱溫度隨加熱溫度的提高，原子擴(kuò)散速率急劇加快，使得奧氏體化速度大大增加，形成所需時間縮短。2.加熱速度加熱速度越快，孕育期縮短，奧氏體開始轉(zhuǎn)變的溫度和轉(zhuǎn)變終了的溫度越高，轉(zhuǎn)變終了所需的時間越短。3.合金元素及鋼的化學(xué)成分在一定的含碳量范圍內(nèi)，奧氏體中碳含量增高，晶粒長大傾向增大。C%高，C在奧氏體中的擴(kuò)散速度以及Fe的自擴(kuò)散速度均增加，奧氏體晶粒長大傾向增加，但C%超過一定量時，由于形成Fe3CII，阻礙奧氏體晶粒長大。鋼中加入鈦、釩、鈮、鋯、鋁等元素，有利于得到本質(zhì)細(xì)晶粒鋼，因?yàn)樘蓟铩?
2023
02-26

X射線衍射(XRD)在職業(yè)衛(wèi)生檢測中的應(yīng)用
游離二氧化硅指巖石或礦物中沒有同金屬或金屬氧化物結(jié)合的二氧化硅（α-石英硅）。含有游離二氧化硅的粉塵進(jìn)入人體肺內(nèi)后，在二氧化硅的毒作用下，引起肺巨噬細(xì)胞解壞死度、導(dǎo)致肺組織纖維化，形成膠原纖維結(jié)節(jié)，使肺組織彈性喪失，硬度增大，造成通氣障礙，影響肺的呼吸活動，即人吸入游離二氧化硅的粉塵可引起矽肺。矽肺是塵肺中進(jìn)展快、危害重的一種。粉塵中含有游離二氧化硅的量越高，對人體危害越大。我國關(guān)于矽塵的衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)在評價粉塵危害時，明確規(guī)定要檢測游離二氧化硅的含量。如GBZ/T192.4-2007《工作場所空氣中
2023
02-08

殘余應(yīng)力產(chǎn)生的原因及檢測方法介紹
殘余應(yīng)力是工件在制造過程中，將受到來自各種工藝等因素的作用與影響；當(dāng)這些因素消失之后，若構(gòu)件所受到的上述作用與影響不能隨之而完全消失，仍有部分作用與影響殘留在構(gòu)件內(nèi)，則這種殘留的作用與影響就是殘余應(yīng)力。.殘余應(yīng)力產(chǎn)生的主要原因有三個：1、熱變化當(dāng)工件從高溫（例如焊接后）冷卻后，整個受熱面的冷卻速率通常會有很大差異。工件的表面和內(nèi)部所經(jīng)歷的冷卻速率的差異導(dǎo)致熱收縮的局部變化。不同的熱收縮會產(chǎn)生不均勻的應(yīng)力。在冷卻過程中，表面以更快的速度冷卻，從而壓縮了中心處的加熱材料。當(dāng)中心的材料試圖冷卻時，它受

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