微型CMOS高速相機(jī) 參考價(jià)：面議
這款微型CMOS高速相機(jī)HAS-U1是一款小型高速攝像機(jī),搭載1/2英寸CMOS圖像傳感器,有效分辨率為1280×1024像素,全分辨率下拍攝速度為2...
CMOS高速成像相機(jī) 參考價(jià)：面議
CMOS高速成像相機(jī)系列是美國高性價(jià)比CMOS高速攝影相機(jī)，廣泛用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控。
高清運(yùn)動高速攝像機(jī) 參考價(jià)：面議
高清運(yùn)動高速攝像機(jī)是一款為動作捕捉和高速運(yùn)動攝像攝影設(shè)計(jì)的高速攝影相機(jī),最高分辨率高達(dá)5K,滿幅攝像速率高達(dá)5350fps.
高速攝像機(jī),高速成像相機(jī) 參考價(jià)：面議
這款高速攝像機(jī)是多用途高速成像相機(jī),在滿幅1280x1028像素分辨率的最高攝像速度達(dá)2000fps,最高成像幀頻15000fps,適合碰撞試驗(yàn)高速攝像,PIV...
門控增強(qiáng)相機(jī) 參考價(jià)：面議
門控增強(qiáng)相機(jī)GOI是門控超快單幅相機(jī),采用微通道板像增強(qiáng)器和超快選通成像技術(shù)構(gòu)建超快光學(xué)門控成像系統(tǒng)
增強(qiáng)型選通成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
增強(qiáng)型選通成像系統(tǒng)GOI2是增強(qiáng)型選通成像相機(jī),采用超快選通像增強(qiáng)器構(gòu)建高速選通分幅相機(jī),廣泛用于超高速攝影,激光等離子體研究.快門寬范圍80ps-5ns,慢門...
高分辨率高速分幅相機(jī) 參考價(jià)：面議
高分辨率高速分幅相機(jī)simx是一款多通道超快分幅攝像機(jī),一次可獲得16幅高分辨率超快圖像,每秒成像幀頻高達(dá)10億次。
高速相機(jī)增強(qiáng)器 參考價(jià)：面議
這款高速相機(jī)增強(qiáng)器適合多數(shù)高速相機(jī)成像增強(qiáng)，適UV-NIR紫外~近紅外范圍的合弱光成像，也適合快速選通門控應(yīng)用。典型的應(yīng)用是與高速相機(jī)或傳統(tǒng)相機(jī)結(jié)合,用于燃燒，...
超高速分幅攝相機(jī) 參考價(jià)：面議
超高速分幅攝相機(jī)系列能夠以高達(dá)2400萬像素捕捉快速事件或瞬態(tài)事件,具有*獨(dú)立可編程曝光和延遲低至5ns，幀速率高達(dá)200M fps，增強(qiáng)器和多種觸發(fā)可選，包括...
四探針電阻率電導(dǎo)率計(jì) 參考價(jià)：面議
這款四探針電阻率電導(dǎo)率計(jì)可快速測量材料的薄層電阻,方塊電阻,sheet resistance電阻率和電導(dǎo)率,適合多種材料和樣品測量。
自動四探針電阻率mapping測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
自動四探針電阻率mapping測試系統(tǒng)是為晶圓電阻率繪圖mapping設(shè)計(jì)的工業(yè)級自動四點(diǎn)探針電阻率測試系統(tǒng)。采用成熟的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，提供快速、準(zhǔn)確和可靠的晶圓樣品...
四探針方塊電阻測量儀 參考價(jià)：面議
四探針方塊電阻測量儀是為Sheet Resistivity薄層電阻率測量設(shè)計(jì)的四點(diǎn)探針電阻測量儀器,滿足各種材料的薄層電阻率測量,包括IV族半導(dǎo)體、金屬和化合物...
晶圓厚度變化測量儀 參考價(jià)：面議
高分辨率晶圓厚度和厚度變化測量儀MX10x系列是德國測量硅片厚度和TTV厚度變化的儀器。它的分辨率高達(dá)10nm，可以在幾秒鐘內(nèi)適應(yīng)不同的厚度范圍。
硅片TTV厚度測量儀 參考價(jià)：面議
該硅片TTV厚度測試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測量儀，能夠精確測量硅片厚度和測量TTV總厚度變化，也能實(shí)時(shí)測量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測試...
硅片TTV厚度測試儀,測量硅片厚度 參考價(jià)：面議
該硅片TTV厚度測試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測量儀，能夠精確測量硅片厚度和測量TTV總厚度變化，也能實(shí)時(shí)測量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測試...
玻璃翹曲度測量儀 參考價(jià)：面議
這款玻璃翹曲度測量儀是大尺寸玻璃彎曲度測量儀和玻璃彎曲度測試儀,廣泛用于翹曲度測量,彎曲度測量,表面形貌測量和鍍膜測量等。,玻璃彎曲度測量儀,玻璃彎曲度測試儀由...
晶圓翹曲度厚度測試儀 參考價(jià)：面議
晶圓翹曲度厚度測試儀是專業(yè)為晶圓翹曲度測量和晶圓厚度測量設(shè)計(jì)的晶圓厚度翹曲度測量儀器。
晶圓翹曲度測量儀 參考價(jià)：面議
這款多功能晶圓翹曲度測量儀是為晶圓生產(chǎn)線上自動晶圓翹曲度測量設(shè)計(jì)的大型自動晶圓測量儀器,具有晶圓厚度測量,晶圓翹曲度測量,晶圓BOW/WARP測量,晶圓wave...
硅錠壽命測量儀 參考價(jià)：面議
硅錠壽命測量儀是精確的非接觸式測量本體壽命的儀器,適合任意生長硅錠表面任意曲率半徑硅錠測量壽命。也適合單晶硅硅錠和多晶硅硅錠壽命測量
顯微光學(xué)傳遞函數(shù)分析儀 參考價(jià)：面議
顯微光學(xué)傳遞函數(shù)分析儀MTF Micro是為極短焦距的微光學(xué)元件設(shè)計(jì)的光學(xué)傳遞函數(shù)測試儀器,它在5個(gè)像場點(diǎn)和焦點(diǎn)測量MTF切向和矢狀。
光學(xué)鏡頭測量儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)鏡頭測量儀是為光學(xué)鏡頭和光學(xué)模組分析測試設(shè)計(jì)的光學(xué)鏡頭分析測試儀器,滿足鏡頭經(jīng)典光學(xué)參數(shù)的測量系統(tǒng),如EFL（焦距）（正/負(fù)）、BFL、FFL、半徑（凹/凸...
紅外自準(zhǔn)直儀 參考價(jià)：面議
紅外自準(zhǔn)直儀是專門為1550nm波長設(shè)計(jì)的電子紅外自動準(zhǔn)直儀器,具有電子圖像評估功能和1弧秒的精度。
磁場消除系統(tǒng),磁場補(bǔ)償系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
磁場消除系統(tǒng)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設(shè)計(jì)的消磁儀器和磁場補(bǔ)償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場噪聲問題,為電子顯微鏡,電子和離子束實(shí)驗(yàn),磁共振成像MRI,...
主動磁場屏蔽消磁系統(tǒng)ECS 參考價(jià)：面議
主動磁場屏蔽消磁系統(tǒng) ECS是專業(yè)為電鏡等電子束儀器屏蔽磁場干擾而設(shè)計(jì)的主動磁場屏蔽和主動消磁裝置系統(tǒng).用于為科學(xué)儀器裝置免受磁場干擾影響的環(huán)境.(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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