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單點(diǎn)硅片測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
單點(diǎn)硅片測(cè)厚儀MX30是采用單點(diǎn)測(cè)厚技術(shù)為硅晶圓厚度測(cè)量設(shè)計(jì)的硅晶圓測(cè)厚儀器。適合手動(dòng)測(cè)量單點(diǎn)的晶圓厚度。
進(jìn)口光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
薄膜測(cè)厚儀TohoSpec 3100是高精度薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),采用小光斑光譜反射計(jì)獲得薄膜厚度信息,可靠的固態(tài)線性二極管陣列可快速、精確地測(cè)量單層薄膜，如氧化物...
鏡片透光率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
鏡片透光率測(cè)試儀是一款眼鏡鏡片透光率測(cè)量?jī)x器,廣泛用于薄膜透光率測(cè)試,比如LED擴(kuò)散板透光率測(cè)試,鏡頭透光率測(cè)試,玻璃透過(guò)率測(cè)試,隔熱紙材料透過(guò)率測(cè)試。
薄膜厚度繪圖儀mapping 參考價(jià)：面議
這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術(shù)測(cè)量整個(gè)樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，對(duì)整個(gè)面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)
便攜式薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
這款便攜式薄膜測(cè)厚儀是便攜式光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測(cè)量,薄膜吸收率測(cè)量,薄膜透過(guò)率測(cè)量,薄膜反射率測(cè)量,薄膜熒光測(cè)量等，這...
diamond光對(duì)稱測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
diamond光對(duì)稱測(cè)量?jī)x有效地測(cè)量光通過(guò)切割diamond時(shí)的質(zhì)量,光對(duì)稱性通過(guò)檢驗(yàn)就diamond切割而言,看到光和感知光的效率成為衡量diamond質(zhì)量的...
便攜式油膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
德國(guó)*便攜式油膜測(cè)厚儀，廣泛用于德國(guó)大眾汽車(chē)公司, 鋼鐵制造和機(jī)械制造企業(yè)，的油膜厚度測(cè)量范圍：0.2---6g/m^2 （約等于微米）。 孚光精儀公司這款德國(guó)...
雙晶片變形反射鏡Bimorph Mirror控制像差 參考價(jià)：面議
微型雙晶片變形反射鏡是特別為激光光束像差控制設(shè)計(jì)的Bimorph Mirrors。制造這種小型雙晶片變形反射鏡有兩種辦法,一種是使用幾個(gè)壓電片，第二種方法是在相...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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