在線自動(dòng)光學(xué)檢查系統(tǒng)AOI 參考價(jià)：面議
在線自動(dòng)光學(xué)檢查系統(tǒng)FDAz系列是Mek專業(yè)級(jí)在線PCB自動(dòng)光學(xué)檢查儀器,適合對(duì)PCB板在線自動(dòng)光學(xué)檢查,替代手動(dòng)PCB檢查方式。
臺(tái)式亞微米貼片機(jī),倒裝芯片貼片ji 參考價(jià)：面議
臺(tái)式亞微米貼片機(jī)FINEPLACER®lambda 2是Finetech臺(tái)式倒裝芯片貼片機(jī),非常適合精密芯片貼片焊接和優(yōu)良的芯片封裝。封裝精度高達(dá)0....
泡沫分析儀 參考價(jià)：面議
泡沫分析儀集成了多尺度液體泡沫的表征方法，將幫助您輕松準(zhǔn)確地表征泡沫特性,快速獲得泡沫配方。能夠生成可控的液體泡沫（幾何結(jié)構(gòu)、液體分?jǐn)?shù)）并了解導(dǎo)致其不穩(wěn)定的現(xiàn)象...
便攜式油膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
德國(guó)*便攜式油膜測(cè)厚儀，廣泛用于德國(guó)大眾汽車公司, 鋼鐵制造和機(jī)械制造企業(yè)，的油膜厚度測(cè)量范圍：0.2---6g/m^2 （約等于微米）。 孚光精儀公司這款德國(guó)...
光纖端面檢測(cè)儀顯微鏡 參考價(jià)：面議
光纖端面檢測(cè)儀顯微鏡SpecVision™ 是光纖檢測(cè)視頻顯微鏡和光纖端面成像檢查儀器，可直接與Krell拋光機(jī)配合使用，可以在連接器或裸光纖仍裝載...
電子束蝕刻機(jī) 參考價(jià)：面議
電子束蝕刻機(jī),電子束光刻機(jī)是納米級(jí)刻蝕機(jī)，非常適合納米技術(shù)和芯片的制造研發(fā)。
掃描開爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
大面積掃描開爾文探針系統(tǒng)能夠在垂直方向移動(dòng)開爾文探針實(shí)現(xiàn)電動(dòng)控制開爾文探針與樣品的距離。 樣品安裝到真空吸盤上，真空吸盤可帶著樣品移動(dòng)150x150mm位移，從...
磁控濺射物理氣相沉積PVD系統(tǒng) 參考價(jià)：800000
磁控濺射物理氣相沉積是多功能高壓PVD系統(tǒng),用于磁控濺射和多組分薄膜的熱蒸發(fā)，用于批量晶圓物理氣相沉積加工.磁控濺射物理氣相沉積可在加熱至700℃的晶圓上濺射多...
晶圓真空氧化退火熱處理系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款半導(dǎo)體晶圓熱處理系統(tǒng)是為半導(dǎo)體晶圓在可控氣體、真空、氧化或還原氣氛中的晶圓高溫處理系統(tǒng)，可對(duì)晶圓真空退火，氧氣退火處理。 鋁室的特殊設(shè)計(jì)允許在*溫度（高達(dá)1...
磁控濺射沉積系統(tǒng) 參考價(jià)：800000
磁控濺射系統(tǒng)MagSput™是下一代磁控濺射沉積系統(tǒng)，實(shí)用性腔,可擴(kuò)展性高,且高度可靠,非常適合磁控濺射鍍膜科學(xué)研究。磁控濺射系統(tǒng)可定制。該腔室可設(shè)...
電子束-電阻熱蒸發(fā)鍍膜系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
電子束-電阻熱蒸發(fā)復(fù)合鍍膜系統(tǒng)集合了電子束沉積鍍膜和電阻式熱蒸發(fā)鍍膜沉積功能。電拋光不銹鋼腔室（D形盒）
III族氮化物分子束外延系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款I(lǐng)II族氮化物分子束外延系統(tǒng)專業(yè)為A3N材料生長(zhǎng)設(shè)計(jì)的MBE設(shè)備,適合氨氣高溫下制備生長(zhǎng)A3N半導(dǎo)體材料,提供非常廣泛的可用生長(zhǎng)參數(shù)（有效氮通量、襯底溫度、...
三腔室分子束外延MBE系統(tǒng) 參考價(jià)：950000
三腔室分子束外延系統(tǒng)是帶有三個(gè)MBE分子束外延生長(zhǎng)腔室的異質(zhì)結(jié)材料MBE生長(zhǎng)設(shè)備,可用于在高達(dá)∅100mm的襯底上以及三個(gè)2英寸以上襯底上一次精確生...
混合異質(zhì)結(jié)構(gòu)分子束外延系統(tǒng)MBE 參考價(jià)：1200000
混合異質(zhì)結(jié)構(gòu)分子束外延系統(tǒng)具有雙反應(yīng)器,非常適合А3В5和А2В6異質(zhì)結(jié)構(gòu)生長(zhǎng)應(yīng)用,也可用于epi晶圓研發(fā)和試生產(chǎn)。
表面平整度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
哈特曼測(cè)量?jī)xHartmannometer是為測(cè)量光學(xué)表面平整度設(shè)計(jì)的哈特曼分析計(jì)量?jī)x器,是用方法和工作原理與菲索干涉儀 （Fizeau interferomet...
進(jìn)口Fizeau菲索干涉儀 參考價(jià)：面議
這款菲索干涉儀 （Fizeau interferometer）是專業(yè)為光學(xué)鏡片平整度測(cè)量而研發(fā)的菲佐干涉儀,配套干涉儀軟件可處理帶有額外傾斜的干涉圖。
光學(xué)表面測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)表面測(cè)試儀是為光學(xué)表面平整度測(cè)試設(shè)計(jì)的平整度測(cè)量?jī)x,采用Shack-Hartmann波前傳感器技術(shù),激光束從被測(cè)光學(xué)表面反射后,進(jìn)入Shack-Hartma...
相移式點(diǎn)衍射干涉儀 參考價(jià)：面議
移相點(diǎn)衍射干涉儀用于表面形狀和透射波前質(zhì)量的超高精度測(cè)量。移相點(diǎn)衍射干涉儀檢測(cè)表面或波前的絕對(duì)圖形。絕對(duì)數(shù)字是指從絕對(duì)參考（即亞波長(zhǎng)孔徑衍射產(chǎn)生的球面波陣面）計(jì)...
單點(diǎn)硅片測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
單點(diǎn)硅片測(cè)厚儀MX30是采用單點(diǎn)測(cè)厚技術(shù)為硅晶圓厚度測(cè)量設(shè)計(jì)的硅晶圓測(cè)厚儀器。適合手動(dòng)測(cè)量單點(diǎn)的晶圓厚度。
多功能翹曲度測(cè)定儀 參考價(jià)：面議
多功能翹曲度測(cè)定儀是一款多參數(shù)翹曲度測(cè)試儀器,可以測(cè)量PCB,IC等翹曲度,應(yīng)變等參數(shù),更可以檢測(cè)隨溫度變化的翹曲度值。
晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀是專業(yè)為晶圓翹曲度測(cè)量和晶圓厚度測(cè)量設(shè)計(jì)的晶圓厚度翹曲度測(cè)量?jī)x器。
進(jìn)口光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
薄膜測(cè)厚儀TohoSpec 3100是高精度薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),采用小光斑光譜反射計(jì)獲得薄膜厚度信息,可靠的固態(tài)線性二極管陣列可快速、精確地測(cè)量單層薄膜，如氧化物...
鏡片透光率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
鏡片透光率測(cè)試儀是一款眼鏡鏡片透光率測(cè)量?jī)x器,廣泛用于薄膜透光率測(cè)試,比如LED擴(kuò)散板透光率測(cè)試,鏡頭透光率測(cè)試,玻璃透過率測(cè)試,隔熱紙材料透過率測(cè)試。
光學(xué)鏡頭測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
光學(xué)鏡頭測(cè)量?jī)x是為光學(xué)鏡頭和光學(xué)模組分析測(cè)試設(shè)計(jì)的光學(xué)鏡頭分析測(cè)試儀器,滿足鏡頭經(jīng)典光學(xué)參數(shù)的測(cè)量系統(tǒng),如EFL（焦距）（正/負(fù)）、BFL、FFL、半徑（凹/凸...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
9