目錄:孚光精儀（中國(guó)）有限公司>>表面微納測(cè)量>>納米壓痕儀>> FP-D7相移式點(diǎn)衍射干涉儀
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2024-09-19 09:55:07瀏覽次數(shù)：224評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 15萬(wàn)-20萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,綜合 |
移相點(diǎn)衍射干涉儀用于表面形狀和透射波前質(zhì)量的超高精度測(cè)量。
移相點(diǎn)衍射干涉儀檢測(cè)表面或波前的絕對(duì)圖形。絕對(duì)數(shù)字是指從絕對(duì)參考（即亞波長(zhǎng)孔徑衍射產(chǎn)生的球面波陣面）計(jì)算測(cè)量形式。
性能指標(biāo)
峰谷絕對(duì)精度：±0.6 nm（λ/1000）
峰谷分辨率：0.05 nm（λ/12000）
波前RMS重復(fù)性：<0.23 nm（λ/2800）
簡(jiǎn)單RMS重復(fù)性：<0.06 nm（λ/10500）
激光類(lèi)型和波長(zhǎng)：穩(wěn)定的He-Ne，632.8 nm
數(shù)值孔徑NA:0.55（f#0.91）
數(shù)據(jù)采集：相移干涉測(cè)量法（PSI）
移相點(diǎn)衍射干涉儀用于表面形狀和透射波前質(zhì)量的超高精度測(cè)量。
移相點(diǎn)衍射干涉儀檢測(cè)表面或波前的絕對(duì)圖形。絕對(duì)數(shù)字是指從絕對(duì)參考（即亞波長(zhǎng)孔徑衍射產(chǎn)生的球面波陣面）計(jì)算測(cè)量形式。
性能指標(biāo)
峰谷絕對(duì)精度：±0.6 nm（λ/1000）
峰谷分辨率：0.05 nm（λ/12000）
波前RMS重復(fù)性：<0.23 nm（λ/2800）
簡(jiǎn)單RMS重復(fù)性：<0.06 nm（λ/10500）
激光類(lèi)型和波長(zhǎng)：穩(wěn)定的He-Ne，632.8 nm
數(shù)值孔徑NA:0.55（f#0.91）
數(shù)據(jù)采集：相移干涉測(cè)量法（PSI）
移相點(diǎn)衍射干涉儀用于表面形狀和透射波前質(zhì)量的超高精度測(cè)量。
移相點(diǎn)衍射干涉儀檢測(cè)表面或波前的絕對(duì)圖形。絕對(duì)數(shù)字是指從絕對(duì)參考（即亞波長(zhǎng)孔徑衍射產(chǎn)生的球面波陣面）計(jì)算測(cè)量形式。
性能指標(biāo)
峰谷絕對(duì)精度：±0.6 nm（λ/1000）
峰谷分辨率：0.05 nm（λ/12000）
波前RMS重復(fù)性：<0.23 nm（λ/2800）
簡(jiǎn)單RMS重復(fù)性：<0.06 nm（λ/10500）
激光類(lèi)型和波長(zhǎng)：穩(wěn)定的He-Ne，632.8 nm
數(shù)值孔徑NA:0.55（f#0.91）
數(shù)據(jù)采集：相移干涉測(cè)量法（PSI）
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