首頁>>杭州大吉光電儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>小麥面粉檢測(cè)儀器>>實(shí)驗(yàn)?zāi)シ蹤C(jī)
實(shí)驗(yàn)?zāi)シ蹤C(jī) 參考價(jià)：面議
小型實(shí)驗(yàn)?zāi)シ蹤C(jī)是一種用于實(shí)驗(yàn)和研究的磨粉設(shè)備，它可以將材料進(jìn)行細(xì)微的磨碎，以達(dá)到所需的物理性能。它通常被用于粉體材料的研究和開發(fā)，也可以用于制藥、微電子、食品、...
大型實(shí)驗(yàn)?zāi)シ蹤C(jī)(三皮三芯)/試驗(yàn)?zāi)シ蹤C(jī) 參考價(jià)：面議
大吉光電實(shí)驗(yàn)?zāi)シ蹤C(jī)廣泛應(yīng)用于小麥育種單位和小麥品質(zhì)研究單位及大型商業(yè)面粉廠。
JMFD70×30實(shí)驗(yàn)?zāi)シ蹤C(jī) 參考價(jià)：面議
實(shí)驗(yàn)?zāi)シ蹤C(jī)的工作原理基于磨削作用和碰撞力。它通常包括兩個(gè)主要部分，即“二皮"和“二心"。樣品被放置在這兩個(gè)旋轉(zhuǎn)的磨盤之間，當(dāng)磨盤高速旋轉(zhuǎn)時(shí)，它們之間的摩擦力將樣...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
16