產(chǎn)品描述：
Santec PEM-340消光比測試儀可以實現(xiàn)1260~1630nm的全波段測量，該消光比測試儀具有很高的消光比測試精度、偏振角測試精度，能夠測量高達(dá)50dB的消光比，并且配備了GPIB接口，適用于偏振光軸調(diào)整的光學(xué)元器件裝配及保偏光纖熔接的質(zhì)量控制及檢測等領(lǐng)域。PEM-340可以實現(xiàn)快速，準(zhǔn)確的光器件偏振軸對準(zhǔn)及保偏光纖（PMF）性能評價。除此之外，使用應(yīng)答時間為1kHz的模擬功率計， 可對應(yīng)半導(dǎo)體激光及光纖的高速自動對準(zhǔn)。
技術(shù)參數(shù)：
全波段1260 to 1630 nm
消光比, 光功率及偏振角度的同時顯示
PER測量的50dB動態(tài)范圍
寬動態(tài)輸入功率范圍
(- 40 to + 10 dBm/標(biāo)準(zhǔn)功率), (- 25 to + 20 dBm/高功率)
直接 PD模擬輸出
實時(up to 10 Hz) 測量
可互換連接器: FC, SC or LC
化工儀器網(wǎng)