描述：
SPA-100 是 Santec 可調(diào)諧激光器的方便光頻域反射儀 （OFDR） 附加模塊。當(dāng)配對(duì)在一起時(shí)，整個(gè)系統(tǒng)可以分析緊湊和最復(fù)雜的光學(xué)元件，從而產(chǎn)生反射率、透射率、傳播損耗和事件距離的結(jié)果。
整個(gè)系統(tǒng)采用OFDR（光頻域反射）技術(shù)，能夠分析空間域中光纖器件/組件的背向反射和透射特性。該系統(tǒng)產(chǎn)生的跡線類似于 OTDR（光時(shí)域反射儀），但具有更高的分辨率和精度。該系統(tǒng)的采樣分辨率為 5 um，可以輕松辨別 PIC（光子集成電路）和硅光子 （SiPh） 器件中的結(jié)構(gòu)。
OFDR系統(tǒng)具有廣泛的可調(diào)諧激光器選擇，可高度配置，可在對(duì)被測(cè)設(shè)備具有重要意義的光譜范圍內(nèi)發(fā)揮作用。該系統(tǒng)提供 O 波段配置（1260 至 1350nm 范圍）和 CL 波段配置（1480 至 1640nm 范圍）。無需局限于小波長(zhǎng)范圍。
特點(diǎn)：
業(yè)界最高分辨率反射儀 （<5 μm）
測(cè)量光學(xué)元件的插入損耗和回波損耗
用于硅光子對(duì)準(zhǔn)和測(cè)試的接近傳感
與Santec TSL-570（也可與TSL-550/TSL-710/TSL-770）集成
用于集成 OPM 的饋通端口，用于硅光子器件的主動(dòng)對(duì)準(zhǔn)
用于硅光子應(yīng)用的保偏光纖
隨附簡(jiǎn)易分析軟件
WDL 測(cè)量掃描范圍廣（高達(dá) 160 nm）
提供 O 波段和 CL 波段配置。
寬動(dòng)態(tài)范圍 （>70 dB），用于 WDL 測(cè)量，無需增益切換
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