渦流陣列檢測

渦流陣列技術
渦流陣列技術（ECA）以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈，并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數(shù)據(jù)， 可避免不同線圈之間的互感。

OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個感應線圈（使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。

渦流陣列的優(yōu)勢
同單通道渦流技術相比，渦流陣列技術具有下列優(yōu)勢：

• 檢測時間大幅度降低。

• 單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。

• 減小了機械和自動掃查系統(tǒng)的復雜性。

• 提供檢測區(qū)域實時圖像，便于數(shù)據(jù)的判讀。

• 很好地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。

• 改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）。

渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

傳感器之間的多路轉換技術。

渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸，使渦流設置具有更大的靈活性。

探頭可以做成不同的形狀和尺寸，以更好地適應檢測部件的外形。

用于腐蝕檢測的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米（0.25英寸）的深度。

用于表面裂痕檢測的發(fā)射-接收探頭以及一個可選編碼。

用于表面裂痕檢測的式探頭。

渦流陣列軟件

簡單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示

• C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集，可快速有效地檢測缺陷。

• 分析模式下的數(shù)據(jù)選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。

• 波幅、相位和位置測量。

• 可調彩色調色板。

• 大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規(guī)單通道ECT探頭檢測相適應。

校準向導

• 分步進行。

• 一組中的所有通道可被同時校準，每個通道各有自己的增益和旋轉。

• 波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設定。

報警

• ３個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。

• 可以在阻抗圖中定義不同的報警區(qū)形狀（扇形、長方形、環(huán)形等）。

自動探頭識別和配置

• 探頭被連接后，C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動設置。

• 頻率范圍保護可避免損壞探頭。

分析模式下的求差工具

該功能可去除在相鄰通道間的提離變化。

高級實時數(shù)據(jù)處理

• 實時數(shù)據(jù)插值可以改進缺陷的空間顯示。

• 使用兩個頻率，可生成一個MIX信號，以去除干擾信號（如：提離、緊固件信號等）。

• 數(shù)據(jù)處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個應用實例：在搭接處邊緣檢測出裂紋，因為該處厚度出現(xiàn)急劇的變化。經濾波的數(shù)據(jù)可以改進檢測效果，特別是對小裂紋而言。