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總有機(jī)碳（TOC）分析儀離線監(jiān)測系統(tǒng)不需要氮?dú)狻⒀鯕?、酸試劑及氧化劑，操作簡單、使用成本低；離線實(shí)驗(yàn)室使用，滿足注射用水、純化水有機(jī)碳的測試及清潔驗(yàn)證；

CPS高精度納米粒度分析儀是一臺(tái)穩(wěn)定高速、高分辨的納米顆粒測量儀器。該儀器適合測量 0.005 微米（也即 5 納米） 到 75um 微米范圍的粒度。

數(shù)據(jù)采集分析軟件采用全中文圖形用戶界面，方便用戶控制測試臺(tái)和記錄測量數(shù)據(jù)，支持手動(dòng)或自動(dòng)編譯其測試腳本程序。

循環(huán)水智慧管理系統(tǒng)全天候監(jiān)控，提供多維度自動(dòng)管理，降低結(jié)垢/沉積/粘泥/腐蝕風(fēng)險(xiǎn),熒光計(jì)實(shí)時(shí)監(jiān)測藥劑濃度，穩(wěn)定有效藥劑濃度，按需調(diào)整藥劑濃度。

F60薄膜厚度測量儀就像我們的 F50產(chǎn)品一樣測繪薄膜厚度和折射率，但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。 這些功能包括凹槽自動(dòng)檢測、自動(dòng)基準(zhǔn)確定、全封閉測量平臺(tái)、...

主動(dòng)式防震系統(tǒng)一些靈敏度很高的儀器可能是一個(gè)自然諧振頻率的被動(dòng)系統(tǒng)，可以用主動(dòng)隔振系統(tǒng)消除共振。

薄膜厚度測量儀：以F20平臺(tái)為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件的模擬演算法的設(shè)計(jì)，能夠...

主動(dòng)式減震臺(tái)空間6自由度主動(dòng)減振-擁有全頻段出色的抗振動(dòng)效果，同時(shí)沒有共振，LCD-加速度時(shí)間波形顯示/加速度頻譜顯示。

薄膜厚度測量儀是為簡便而經(jīng)濟(jì)有效地測試眼科減反涂層設(shè)計(jì)的定制儀器。 價(jià)格低廉， F10-AR 使線上操作人員經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，就可以進(jìn)行厚度測量。

薄膜厚度測量儀：使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對(duì)膜的頂部和底部反射光譜進(jìn)行分析可得到實(shí)時(shí)厚度信息。

主動(dòng)式防震臺(tái)水平自動(dòng)調(diào)節(jié)功能即使負(fù)載重心偏離中心，自動(dòng)的水平調(diào)節(jié)功能也可以讓心偏回來，繼續(xù)為儀器提供一個(gè)穩(wěn)定的使用環(huán)境。

電阻率測量儀R50提供接觸式四點(diǎn)探針（4PP）和非接觸式渦流（EC）測量。電動(dòng)X-Y載物臺(tái)可額外使用定制樣品架，樣品測量可達(dá)300mm的，可測量面積可達(dá)200m...

薄膜厚度測量儀-膜厚儀：Filmetrics的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對(duì)待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測...

Herz主動(dòng)式減震系統(tǒng)平臺(tái)為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供的主動(dòng)隔振性能(從0.5Hz開始)。UT-1000A平臺(tái)通過消除，干擾測量的破壞性低頻振動(dòng)噪聲，幫...

F54薄膜厚度測量儀的產(chǎn)品能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米，可選擇數(shù)十種內(nèi)...

薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進(jìn)行 FWHM 并進(jìn)行顏色分析。

AVI-600系列 主動(dòng)式防震系統(tǒng)為緊湊型的主動(dòng)隔振系統(tǒng)，是納米技術(shù)大型儀器隔振的解決方案。對(duì)升級(jí)和整合到現(xiàn)有的需要低頻隔振功能的設(shè)備來說是不錯(cuò)的選擇。

F3-sX薄膜厚度測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測厚度達(dá)3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F(xiàn)3-sX系列配置10...

F54-XYT-300薄膜厚度測量儀具有集成的顯微鏡和實(shí)時(shí)攝像頭，可以精確監(jiān)控膜厚測量點(diǎn)。小尺寸的測量光斑允許測量有圖案的樣品，并且可以改良在較粗糙的材料上的測...

F54-XY-200薄膜厚度測量儀：借助F54-XY-200光譜反射系統(tǒng)，可以輕松地測量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的...