薄膜厚度測量儀-膜厚儀結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng)

Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系統(tǒng)                                  Filmetrics F40-UV SS-Microscope-UVX-1系統(tǒng)

Filmetrics薄膜厚度測量儀-膜厚儀的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。

當(dāng)測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時，可以使用F40。使用先前足部校正顯微鏡的物鏡，再進行測量，即可獲得精準(zhǔn)的厚度及光學(xué)參數(shù)值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，F(xiàn)40就可以和市面上多數(shù)的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測量位置。

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