關(guān)于熱電材料性能導(dǎo)熱系數(shù)的測(cè)定相關(guān)知識(shí)
測(cè)量導(dǎo)熱系數(shù)時(shí)，應(yīng)盡量減少被測(cè)元件以輻射、對(duì)流和導(dǎo)熱等方式傳遞給周圍空氣的熱量。
測(cè)量元件導(dǎo)熱系數(shù)的方法有法和相對(duì)法。確定導(dǎo)熱系數(shù)時(shí)應(yīng)測(cè)量加熱器的功率。通常用電加熱器加熱元件，其功率由電流及電壓求得。測(cè)量時(shí)采用的元件幾何尺寸視材料的導(dǎo)熱性能而定。高導(dǎo)熱系數(shù)的半導(dǎo)體材料，其元件的長(zhǎng)度對(duì)截面積之比值應(yīng)大一些，否則不易建立足夠大的溫差。當(dāng)元件的導(dǎo)熱系數(shù)較小時(shí)，應(yīng)采用小的元件，以避免產(chǎn)生太大的溫差，減少漏入周圍環(huán)境的熱量。短的元件使實(shí)驗(yàn)過程中工況穩(wěn)定所需的時(shí)間縮短。對(duì)于短的半導(dǎo)體元件，不言而喻，元件和熱源、冷源之間的接觸熱阻應(yīng)很小，為此表面必須在機(jī)械加工后再拋光，使元件和冷、熱源均有平而光的接觸表面。裝配時(shí)在表面上還要抹一層油脂，或在元件表面掛錫后，與熱源或冷源焊接在一起。
漏熱量用實(shí)驗(yàn)測(cè)定。測(cè)定時(shí)將元件換成另一件導(dǎo)熱系數(shù)很低、且其導(dǎo)熱系數(shù)數(shù)值已知的材料，通過試驗(yàn)求出加入的熱量以及通過該替換物的熱量，即得到漏熱量。元件兩端的熱阻也用實(shí)驗(yàn)測(cè)定，測(cè)定時(shí)取材料相同但長(zhǎng)度不同的元件，放到測(cè)量系統(tǒng)內(nèi)，比較測(cè)量結(jié)果后求出熱阻。
上述方法曾用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的導(dǎo)熱系數(shù)，溫度范圍為室溫至液氨溫度。當(dāng)實(shí)驗(yàn)溫度升得很高時(shí)，向周圍環(huán)境的漏熱也達(dá)到很大的數(shù)值，測(cè)量精度下降。在這種情況下，宜用相對(duì)法測(cè)量元件的導(dǎo)熱系數(shù)。
相對(duì)法測(cè)量系統(tǒng)待測(cè)元件夾在兩塊標(biāo)準(zhǔn)材料塊之問，標(biāo)準(zhǔn)材料塊的導(dǎo)熱系數(shù)是已知的。試件、冷庫(kù)壓縮機(jī)組以及熱源外面用絕熱材料包裹以減少漏熱。盛放試件元件的容器，其容器壁被加熱，以保持壁面溫度與半導(dǎo)體元件的溫度相近。取流經(jīng)半導(dǎo)體元件的熱量，等于流經(jīng)元件上、下側(cè)標(biāo)準(zhǔn)材料塊的熱量平均值。元件、標(biāo)準(zhǔn)塊以及冷、熱源的表面均經(jīng)研磨加工，使其既光滑又平整，以改善熱接觸條件。因?yàn)闊犭娕脊潭ㄔ跇?biāo)準(zhǔn)塊上以及元件上，而不是埋在冷源和熱源上，故接觸電阻產(chǎn)生的溫差可以不考慮。
標(biāo)準(zhǔn)塊用的材料制成。原則上標(biāo)準(zhǔn)塊的導(dǎo)熱系數(shù)與元件材料的導(dǎo)熱系數(shù)應(yīng)有相同的數(shù)量級(jí)，以保證標(biāo)準(zhǔn)塊上的溫差與元件的溫差相近。
附BKTEM-Dx全自動(dòng)熱電性能分析系統(tǒng)
BKTEM-Dx全自動(dòng)熱電性能分析系統(tǒng)
關(guān)鍵詞：熱電材料，Seebeck系數(shù)，電導(dǎo)率， 電阻率，V-1裝置
產(chǎn)品介紹：
BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)是一款全新的自動(dòng)化熱電賽貝克系數(shù)測(cè)試儀，
該儀器實(shí)現(xiàn)了一體化設(shè)計(jì)，無需手動(dòng)，電腦軟件上可以直接抽真空，設(shè)置溫
度，只要將樣品裝上之后，實(shí)現(xiàn)一鍵式的測(cè)量，電阻率及各個(gè)表格能夠直觀出
現(xiàn)，其測(cè)試性能遠(yuǎn)超越國(guó)內(nèi)外熱電材料測(cè)試儀，不僅可以用于塊體材料同時(shí)也
可以用于薄材料的測(cè)試，是目前國(guó)內(nèi)高等院校和材料研究所的重要設(shè)備。
對(duì)于熱電材料的研究，熱電性能測(cè)試是*的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點(diǎn)如下:
該裝置由高精度，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫，采用四點(diǎn)法的方式測(cè)定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出，自動(dòng)出來測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試報(bào)告。
一、適用范圍：
1、地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。
3、塊體和薄膜材料測(cè)均可以測(cè)試。
4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。
5、擁有分析軟件，獨(dú)立分析，過程自動(dòng)控制，界面友好。
6、國(guó)內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。
7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會(huì)誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域。
二、技術(shù)特點(diǎn)：
一體化設(shè)計(jì)，所有參數(shù)直接在電腦上操作，無須人工干預(yù)
·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問題，靜態(tài)法測(cè)量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。
測(cè)量溫度：室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選
同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量：1個(gè)，2個(gè)，3個(gè) 可選
控溫精度：0.5K（溫度波動(dòng):≤±0.1℃）
升溫速率：0.01 –100K/min，極大得提高測(cè)試時(shí)間
測(cè)量原理：塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電；電阻系數(shù)：四端法
測(cè)量范圍：塞貝克系數(shù)：0.5μV/K_25V/K；電阻系數(shù)：0.2Ohm-2.5KOhm
分辨率：塞貝克系數(shù)：10nV/K;電阻系數(shù)： 10nOhm
測(cè)量精度：塞貝克系數(shù)：＜±6％；電阻系數(shù)：＜±5％
樣品尺寸：塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長(zhǎng)，薄膜材料：≥50 nm
熱電偶導(dǎo)距: ≥6 mm
電 流: 0 to 160 Ma
氣 氛：0 to 160 mA
加熱電極相數(shù)/電壓：單相，220V，
夾具接觸熱阻：≤0.05 m2K/W
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圖1 單一樣品測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖
提供商 |
北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司 | 下載次數(shù) |
36次 |
資料大小 |
229KB | 資料類型 |
WORD 文檔 |
資料圖片 |
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