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參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)FSM 413

品牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地上海市

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更新時(shí)間：2023-05-23 11:57:22瀏覽次數(shù)：555次

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產(chǎn)地類別	進(jìn)口	價(jià)格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,制藥/生物制藥

產(chǎn)地類別

進(jìn)口

價(jià)格區(qū)間

面議

應(yīng)用領(lǐng)域

醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,制藥/生物制藥

產(chǎn)品品牌：Frontier Semiconductor

產(chǎn)品型號(hào)：FSM 413

產(chǎn)品描述：紅外干涉測量技術(shù), 非接觸式測量

紅外干涉測量設(shè)備適用于可讓紅外線通過的材料

硅、藍(lán)寶石、砷化鎵、磷化銦、碳化硅、玻璃、石英、聚合物…………

襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)

平整度

厚度變化 (TTV)

溝槽深度

過孔尺寸、深度、側(cè)壁角度

粗糙度

薄膜厚度

環(huán)氧樹脂厚度

襯底翹曲度

晶圓凸點(diǎn)高度(bump height)

MEMS 薄膜測量

TSV 深度、側(cè)壁角度...

測量方式: 紅外干涉(非接觸式)

樣本尺寸: 50、75、100、200、300 mm

測量厚度: 30 — 780 μm (單探頭)

3 mm (雙探頭總厚度測量)

掃瞄方式: 半自動(dòng)及全自動(dòng)型號(hào),

另2D/3D掃瞄(Mapping)可選

襯底厚度測量: TTV、平均值、小值、大值、公差...

粗糙度: 20 — 1000? (RMS)

重復(fù)性: 0.1 μm (1 sigma)單探頭*

0.8 μm (1 sigma)雙探頭*

分辨率: 10 nm

設(shè)備尺寸:

413-200: 26"(W) x 38" (D) x 56" (H)

413-300: 32"(W) x 46" (D) x 66" (H)

重量: 500 lbs

電源 : 110V/220VAC 真空: 100 mm Hg

*樣本表面光滑（一般粗糙度小于0.1μm RMS)

** 150μm厚硅片（沒圖案、雙面拋光并沒有摻雜）

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