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當(dāng)前位置：上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>測量/計量儀器>>表界面物性測試>> VIT系列硅片表面形貌測量
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號VIT系列
品 牌Bruker/布魯克
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間：2023-05-24 16:24:24瀏覽次數(shù)：403次
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,公安/司法,汽車及零部件,電氣 |
硅片表面形貌測量VIT系列
NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile
3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌測量
Film Stress薄膜應(yīng)力量測儀
FEOL Electrical Characterization 電學(xué)特性
Thin wafer metrology 晶圓測量學(xué)
Film Adhesion漆膜附著力測試NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile
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上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?
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