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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌Freiberg Instruments
廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2024-11-02 11:41:07瀏覽次數(shù):196次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)少子壽命測(cè)試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)
MDPlinescan在線(xiàn)少子壽命測(cè)試儀
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 類(lèi)型 | 其他 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
德國(guó)Freiberg Instruments 電阻率測(cè)試儀(RESmap )
德國(guó)Freiberg Instruments 電阻率測(cè)試儀(RESmap )在對(duì)低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測(cè)量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge | 化合物半導(dǎo)體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬 | 導(dǎo)電 | 氧化物和氮化物[ Ge | Si | SiC | InP | GaAs | GaN | InAs以及更多]
產(chǎn)品介紹:
在對(duì)低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測(cè)量方式上擁有非常重要的重復(fù)性Si | Ge | 化合物半導(dǎo)體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬 | 導(dǎo)電 | 氧化物和氮化物[ Ge | Si | SiC | InP | GaAs | GaN | InAs以及更多]
電渦流傳感器的測(cè)量原理
中心處可實(shí)現(xiàn)較大的準(zhǔn)確性和精確度
4H-SiC晶圓整個(gè)生長(zhǎng)面區(qū)域的電阻率變化測(cè)量
硅晶圓電阻率變化測(cè)量 — 面掃描、分布和線(xiàn)掃描
特征 :
更多技術(shù)規(guī)格和配置選項(xiàng):
用戶(hù)友好且優(yōu)良的操作軟件:
◇ 電阻率測(cè)量配方;
◇ 導(dǎo)出/導(dǎo)入功能和原始數(shù)據(jù)訪(fǎng)問(wèn);
◇ 多級(jí)用戶(hù)賬戶(hù)管理;
◇ 所有執(zhí)行的測(cè)量概覽;
◇ 繪圖選項(xiàng)(線(xiàn)、十字、星、完整地圖、地形、用戶(hù)定義圖案);
◇ 分析功能包;統(tǒng)計(jì)、方差分析、溫度校正函數(shù)和數(shù)據(jù)庫(kù);
◇ 遠(yuǎn)程訪(fǎng)問(wèn);基于互聯(lián)網(wǎng)的系統(tǒng)允許在世界任何地方進(jìn)行遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持;
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