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當前位置：上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?/a>>>半導體行業(yè)儀器>> 電阻率測試儀（RESmap ）
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌Freiberg Instruments
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間：2024-11-02 11:41:07瀏覽次數(shù)：211次
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 類型 | 其他 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀（RESmap ）
德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀（RESmap ）在對低電阻率晶錠和晶圓進行非接觸式測量方式上擁有非常重要的重復性 Si | Ge | 化合物半導體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬 | 導電 | 氧化物和氮化物[ Ge | Si | SiC | InP | GaAs | GaN | InAs以及更多]
產(chǎn)品介紹：
在對低電阻率晶錠和晶圓進行非接觸式測量方式上擁有非常重要的重復性Si | Ge | 化合物半導體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬 | 導電 | 氧化物和氮化物[ Ge | Si | SiC | InP | GaAs | GaN | InAs以及更多]
電渦流傳感器的測量原理
中心處可實現(xiàn)較大的準確性和精確度
4H-SiC晶圓整個生長面區(qū)域的電阻率變化測量
硅晶圓電阻率變化測量 — 面掃描、分布和線掃描
特征 ：
更多技術(shù)規(guī)格和配置選項:
用戶友好且優(yōu)良的操作軟件：
◇ 電阻率測量配方；
◇ 導出/導入功能和原始數(shù)據(jù)訪問；
◇ 多級用戶賬戶管理；
◇ 所有執(zhí)行的測量概覽；
◇ 繪圖選項（線、十字、星、完整地圖、地形、用戶定義圖案）；
◇ 分析功能包；統(tǒng)計、方差分析、溫度校正函數(shù)和數(shù)據(jù)庫；
◇ 遠程訪問；基于互聯(lián)網(wǎng)的系統(tǒng)允許在世界任何地方進行遠程操作和技術(shù)支持；
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