的操作方案包括：　?。?）x射線發(fā)射；　?。?）x射線返回探測(cè)器；以及作為表面檢查技術(shù)的分析儀?！　≡谝恍┹p合金中，例如鋁合金、XRF技術(shù)發(fā)展企業(yè)管理只能通過(guò)進(jìn)行研究檢查數(shù)據(jù)分析樣品表面具有以下的數(shù)百微米的深度。 　　一些主要的金屬，在不超過(guò)百米的深度就能被探測(cè)到。對(duì)于金和鉛等稠密材料，只有樣品表面可以在幾十微米的深度進(jìn)行檢查和分析。 　　這意味著，當(dāng)使用x光熒光技術(shù)進(jìn)行檢查時(shí)，如果材料的表面沒(méi)有正確地代表整個(gè)材料的組成，則不能獲得可靠的檢查數(shù)據(jù)。 　　表面環(huán)境污染，例如油漆、保護(hù)層、鍍層，分析問(wèn)題研究調(diào)查結(jié)果就是我們可能會(huì)導(dǎo)致出現(xiàn)大大歪曲。同樣，噴砂、噴砂、研磨和污垢處理后留在表面的物質(zhì)也會(huì)影響物質(zhì)成分鑒別的結(jié)果。