工業(yè)CT是計(jì)算器斷層成像技術(shù)(Industrial Computed Tomography)的簡(jiǎn) 稱，它能在對(duì)檢測(cè)物體無(wú)損傷條件下，以二維斷層圖像或三維立體 圖像的形式，清晰、準(zhǔn)確、直觀地展示被檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、組 成、材質(zhì)及缺損狀況，被譽(yù)為當(dāng)今最佳無(wú)損檢測(cè)和無(wú)損評(píng)估技術(shù)之 一。

工業(yè)CT是計(jì)算器斷層成像技術(shù)(Industrial Computed Tomography)的簡(jiǎn) 稱，它能在對(duì)檢測(cè)物體無(wú)損傷條件下，以二維斷層圖像或三維立體 圖像的形式，清晰、準(zhǔn)確、直觀地展示被檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、組 成、材質(zhì)及缺損狀況，被譽(yù)為當(dāng)今最佳無(wú)損檢測(cè)和無(wú)損評(píng)估技術(shù)之 一。

      信準(zhǔn)檢測(cè)采用國(guó)外的工業(yè)CT檢測(cè)儀器，全為進(jìn)口設(shè)備，儀器狀態(tài)良好，檢測(cè)工程師同樣具有國(guó)內(nèi)外水平，能為您提供準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果。

工業(yè)CT原理

     工業(yè)CT是在射線檢測(cè)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的，其基本原理是當(dāng)經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直且具能量的射線束穿過(guò)被檢物時(shí)，根據(jù)各個(gè)透射方向上各體積元的衰減系數(shù)從不同，探測(cè)器接收到的透射能量也不同。按照一定的圖像重建算法，即可獲得被檢工件截面一薄層無(wú)影像重疊的斷層掃描圖像，重復(fù)上述過(guò)又可獲得一個(gè)新的斷層圖像，當(dāng)測(cè)得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像。

集成電路（IC）檢測(cè) 工業(yè)CT技術(shù)可以檢測(cè)IC內(nèi)部的缺陷，如裂紋、氣泡、接觸不良等。通過(guò)檢測(cè)，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并進(jìn)行維修，提高IC的可靠性，從而延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命。封裝結(jié)構(gòu)檢查 工業(yè)CT技術(shù)可以對(duì)3C電子產(chǎn)品的封裝結(jié)構(gòu)進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，包括PCB板、連接器、FPC軟板等。這有助于提高產(chǎn)品的可靠性，減少因封裝結(jié)構(gòu)問(wèn)題導(dǎo)致的失效。表面與內(nèi)部缺陷檢測(cè) 工業(yè)CT技術(shù)可以對(duì)3C電子產(chǎn)品的表面和內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè)，包括裂紋、氣泡、異物等。這有助于提高產(chǎn)品的質(zhì)量和于提高產(chǎn)品的可靠性，減少因封裝結(jié)構(gòu)問(wèn)題導(dǎo)致的失效。電子元件與連接器的檢查 工業(yè)CT技術(shù)可以檢測(cè)電子元件和連接器內(nèi)部的缺陷，如針腳變形、短路、接觸不良等。通過(guò)檢測(cè)，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并進(jìn)行維修，提高電子產(chǎn)品的性能和穩(wěn)定性。失效分析 工業(yè)CT技術(shù)可以對(duì)3C電子產(chǎn)品的失效進(jìn)行分析，找出失效的原因，為產(chǎn)品的改進(jìn)和設(shè)計(jì)提供依據(jù)。通過(guò)分析，可以優(yōu)化設(shè)計(jì)方案，降低產(chǎn)品的失效率。材料分析 工業(yè)CT技術(shù)可以對(duì)3C電子產(chǎn)品的材料進(jìn)行分析，了解材料的組成、結(jié)構(gòu)和性能。這有助于選擇合適的材料，提高產(chǎn)品的性能和可靠性?？臻g分析與尺寸測(cè)量 工業(yè)CT技術(shù)可以對(duì)3C電子產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行三維重建，提供空間分析和尺寸測(cè)量。這有助于在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段就發(fā)現(xiàn)潛在問(wèn)題，減少產(chǎn)品的制造成本和周期。