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X射線檢測設(shè)備產(chǎn)品參數(shù)介紹：

X射線檢測設(shè)備由無錫日聯(lián)科技股份有限公司研發(fā)生產(chǎn)銷售,日聯(lián)科技成立于2002年，是從事精密 X 射線技術(shù)研究和 X 射線智能檢測裝備研發(fā)，該技術(shù)和裝備廣泛應(yīng)用于電子半導(dǎo)體、鋰電新能源、工業(yè)無損探測、公共安全及航天*等高科技行業(yè)，國內(nèi)多項(xiàng)技術(shù)空白。

●外觀簡約、大氣，人性化操作；

●強(qiáng)穿透性射線源搭配高清FPD，滿足多樣化檢測需求；

●高系統(tǒng)放大倍率，高清實(shí)時成像；

●搭配八軸聯(lián)動系統(tǒng)，多方位操控檢測*；

     ●強(qiáng)大圖像處理功能，CNC高速自動跑位測算；

產(chǎn)品特點(diǎn)：
◆ 全視角X射線檢測

◆ 高放大倍率高解析度

◆ 搭配八軸聯(lián)動系統(tǒng)

◆ 360°旋轉(zhuǎn)測試

x-ray無損探傷檢測設(shè)備為X 射線技術(shù)研究和 X 射線智能檢測裝備研發(fā)的日聯(lián)科技生產(chǎn)銷售,日聯(lián)科技是微聚焦X-RAY研發(fā),x光安檢機(jī),工業(yè)探傷機(jī),x-ray檢測,車輛檢測設(shè)備,x射線機(jī)的生產(chǎn),銷售為一體的檢測設(shè)備*.

x-ray無損探傷檢測設(shè)備是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動能會以X-Ray形式放出。而對于樣品無法以外觀方式檢測的位置，利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化，產(chǎn)生的對比效果可形成影像即可顯示出待測物之內(nèi)部結(jié)構(gòu)，進(jìn)而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內(nèi)部有問題的區(qū)域。
金屬材料及零部件、塑膠材料及零部件、電子元器件、電子組件、LED元件等內(nèi)部的裂紋、異物的缺陷檢測，BGA、線路板等內(nèi)部位移的分析；判別空焊，虛焊等BGA焊接缺陷，微電子系統(tǒng)和膠封元件，電纜，裝具，塑料件內(nèi)部情況分析。
測試步驟：
確認(rèn)樣品類型/材料→樣品放入X-Ray設(shè)備檢測→圖片判斷分析→標(biāo)注缺陷類型和位置。