高溫高濕kou罩老化箱，是以高溫高濕對(duì)樣品進(jìn)行老化試驗(yàn)，在相對(duì)溫度和濕度的恒定及循環(huán)下，檢測樣品的性能是否達(dá)到可靠性指標(biāo)。其用途非常廣泛，航空航天，電子電氣，汽車元器件，天線，LED，各大高校及科研院所。

高溫高濕kou罩老化箱，主要以溫度和濕度對(duì)3M,4C,OP,和ES等kou罩進(jìn)行測試，測試熔噴bu性能是否能達(dá)到可靠性指標(biāo)。

試驗(yàn)表明，在高溫小于100℃和濕度小于98%的條件下，kou罩能接受20多次的高溫高濕循環(huán)測試，而性能沒有下降，對(duì)熔噴bu的過濾性能，也沒有造成損壞，3M、4C、OP、ES等kou罩，在高溫85℃、及不同濕度的條件下，經(jīng)過幾十次的高溫及濕度循環(huán)下，基本上都保持了穩(wěn)定的表現(xiàn)。而浸泡，次氯酸鈉，肥皂水，清洗，酒精等液體，噴灑在kou罩上，都會(huì)降低kou罩的過濾效果，因?yàn)槿蹏奲u的靜電被破壞了。所以選擇高溫高濕kou罩老化箱，是對(duì)kou罩老化*的設(shè)備。

內(nèi)箱尺寸：500*750*600（寬*高*深）

溫度范圍：60℃~150℃

濕度范圍：75%~98%RH

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

GJB150.3-2009高溫試驗(yàn)

GJB150.4-2009低溫試驗(yàn)

GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）;

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：低溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）；

GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab 恒定濕熱試驗(yàn)（IEC 60068-2-78:2012,IDT）;

GB/T 2423.4-2008 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab 交變濕熱（12h+12h循環(huán)（IEC 60068-2-30:2005,IDT）;

GB/T 2423.22-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化（IEC 60068-2-14:2009，IDT）；

GJB 150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；

GJB/T 150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn)；

GJB/T 150.9-86 軍用設(shè)備環(huán)境曬云方法 第8部分 濕熱試驗(yàn)。

電源：380V