是德*響應(yīng)客戶的需求，針對當(dāng)今流/行的印刷電路板（PCB）提供更出色的測試點(diǎn)接入能力。Keysight Medalist 焊珠探頭技術(shù)能夠指/定將測試目標(biāo)或焊珠探頭直接放置到銅信號走線上的方式，幾乎能在電路板版圖的任何位置提供測試接入點(diǎn)，具有卓/越的測試范圍。

這種方法業(yè)經(jīng)驗(yàn)證并經(jīng)過*測試，將為電子制造商提供卓/越的在線測試接入能力，使他們能夠測試當(dāng)今密度日益增加的 PCB 和高速電路設(shè)計(jì)。Bead probe的實(shí)施無需更改現(xiàn)有的表面安裝技術(shù)（SMT）工藝，也無需增加成本！

Bead probe的優(yōu)勢：

• 為在線測試（ICT）原來無法接入的高密度電路板或高速電路板提供卓/越的測試接入
• 焊珠可以直接放置在高速走線上，同時(shí)維持出色的信號完整性
• Bead probe不需要為適應(yīng)傳統(tǒng)的測試焊點(diǎn)而耗費(fèi)大量資金和時(shí)間進(jìn)行信號路徑重新布線。設(shè)計(jì)部門與測試部門之間可顯著縮短協(xié)商時(shí)間，意味著產(chǎn)品能夠更快投放市場。
• 支持更多探測選件，這些選件能夠簡化并降低 ICT 測試夾具的成本。
• Bead probe可以使用當(dāng)前的 SMT 焊接掩膜和焊膏模板工藝實(shí)施，不會增加額外的成本或處理步驟。

制造商如何評價(jià)焊珠探頭技術(shù)

“超過 150 萬的數(shù)據(jù)點(diǎn)使我們相信，Bead probe不僅在大批量生產(chǎn)環(huán)境中是可行的，而且它的成功實(shí)現(xiàn)既不會增加成本，也不會影響到設(shè)計(jì)的靈活性。”――深入測試 Keysight Medalist 焊珠探頭技術(shù)后，一家重要電子產(chǎn)品 OEM 給出的評價(jià)

是德的優(yōu)勢

Bead probe可直接置放到任何 PCB 上。但只有 Keysight Medalist 3070 和 i5000 在線測試儀可幫助您充分利用這些新增探測位置。例如，是德夾具軟件會自動優(yōu)化通過哪些焊珠進(jìn)行探測，以把昂貴的 39 mil 和 50 mil 探針數(shù)量減到小，從而降低夾具成本。此外，是德在線測試儀還能通過優(yōu)化探測位置把電路板的撓曲減到小，這種撓曲有可能在 ICT 期間損壞電路板組件。只有是德公司能為您提供Bead probe就緒的綜合夾具解決方案。

入門指南

為促進(jìn)Bead probe在行業(yè)的推廣，其他的非是德 ICT 廠商也能獲得設(shè)備許可證。只要這些非是德廠商購買設(shè)備許可證，他們的系統(tǒng)就能獲得“是德許可”，其客戶就能獲得客戶許可證。那時(shí)客戶也就能在其 PCB 上合法使用焊珠探頭，并在非是德 ICT 系統(tǒng)中測試這些 PCB。